Некоторые пути повышения чувствительности сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии
| Parent link: | Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]/ Томский политехнический институт (ТПИ).— , 1944-1976 Т. 184.— 1970.— [С. 136-139] |
|---|---|
| Autore principale: | |
| Altri autori: | , |
| Riassunto: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации |
| Lingua: | russo |
| Pubblicazione: |
1970
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | Черно-белая версия для предварительного просмотра Цветная версия без потери качества |
| Natura: | Elettronico Capitolo di libro |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=218886 |
| Descrizione fisica: | 2 файла (193 Кб, 6.7 Мб) |
|---|---|
| Riassunto: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации |