|
|
|
|
| LEADER |
00000naa2a2200000 4500 |
| 001 |
217116 |
| 005 |
20260422132511.0 |
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\book\237096
|
| 035 |
|
|
|a RU\TPU\book\237094
|
| 090 |
|
|
|a 217116
|
| 100 |
|
|
|a 20120531d1968 k y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a UZ
|
| 200 |
1 |
|
|a О влиянии основы на интенсивность линии висмута при спектральном анализе
|f М. Д. Койфман
|
| 225 |
1 |
|
|a Физические и химические методы анализа
|
| 320 |
|
|
|a Библиогр.: с. 123 (7 назв.)
|
| 461 |
|
1 |
|0 (RuTPU)RU\TPU\book\42632
|t Сборник информационных материалов
|f Среднеазиатский научно-исследовательский и проектный институт цветной металлургии
|d 1967-1968
|
| 463 |
|
1 |
|0 (RuTPU)RU\TPU\book\237023
|t № 5
|v С. 115-123
|d 1968
|
| 700 |
|
1 |
|a Койфман
|b М. Д.
|
| 801 |
|
1 |
|a RU
|b 63413507
|c 20120531
|
| 801 |
|
2 |
|a RU
|b 63413507
|c 20120531
|g RCR
|
| 942 |
|
|
|c BK
|