| Gaia: | Рассматриваются математические модели, методы и программное обеспечение многомерного статистического контроля показателей качества в технологическом процессе. Предложен ряд новых методов повышения эффективности статистического контроля многопараметрического процесса. Анализируется чувствительность различных типов контрольных карт к возможным нарушениям технологического процесса. Для специалистов, разрабатывающих и использующих методы статистического контроля процессов. Книга будет полезна работникам, занимающимся вопросами управления качеством, а также преподавателям и студентам технических и экономических специальностей вузов. |
|---|
