Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике

Detaylı Bibliyografya
Yazar: Афонский А. А.
Diğer Yazarlar: Дьяконов В. П.
Özet:Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.
Dil:Rusça
Baskı/Yayın Bilgisi: Москва, ДМК Пресс, 2011
Konular:
Materyal Türü: Kitap
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=212176

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 212176
005 20231101225733.0
010 |a 9785940746263 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\231806 
090 |a 212176 
100 |a 20120322d2011 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике  |f А. А. Афонский, В. П. Дьяконов 
210 |a Москва  |c ДМК Пресс  |d 2011 
215 |a 688 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 679-687. 
330 |a Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов. 
606 1 |a Электронные измерения  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\71758  |9 85526 
610 1 |a нанотехнологии 
610 1 |a микроэлектроника 
610 1 |a интегральные микросхемы 
610 1 |a компоненты 
610 1 |a электронные схемы 
610 1 |a постоянный ток 
610 1 |a переменный ток 
610 1 |a измерения 
610 1 |a сигналы 
610 1 |a измерительные генераторы 
610 1 |a электронные осциллографы 
610 1 |a анализаторы 
610 1 |a спектры 
610 1 |a цепи 
610 1 |a последовательные анализаторы 
610 1 |a логические анализаторы 
610 1 |a полупроводниковые приборы 
610 1 |a оптико-электронные приборы 
610 1 |a параметры 
675 |a 621.38.08  |v 3 
700 1 |a Афонский  |b А. А. 
701 1 |a Дьяконов  |b В. П. 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20120322 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20150610  |g RCR 
942 |c BK 
959 |a 44/20120321  |d 2  |e 968,10  |f ЧЗТЛ:1  |f АНЛ:1