Моделирование метрологических характеристик интеллектуальных измерительных приборов и систем

Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awdur: Шевчук В. П. Валерий Петрович
Crynodeb:В книге предлагается классифицировать информационно-измерительные и управляющие системы по типу уравнения измерения критерия управления. Приведены основные уравнения обобщенных технико-экономических критериев управления. Предложены математические модели физических процессов формирования систематической методической динамической составляющей погрешности измерения в аналоговых, цифровых и программно-аппаратных измерительных каналах и системах. Подробно рассмотрены модели метрологических характеристик виртуальных приборов и характеристик информативности интеллектуальных измерительных систем. Исследованы метрологические свойства конкретных виртуальных приборов и алгоритмов визуализации процессов измерения. Для научных работников, аспирантов и инженеров, занимающихся разработкой виртуальных приборов и исследованием метрологических характеристик информационно-измерительных и управляющих систем. Может быть полезна студентам старших курсов технических вузов при выборе тематики магистерских диссертаций, дипломных работ и проектов.
Iaith:Rwseg
Cyhoeddwyd: Москва, Физматлит, 2011
Cyfres:Математика. Прикладная математика
Pynciau:
Fformat: Llyfr
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=205586
Disgrifiad
Disgrifiad Corfforoll:319 с. ил.
Crynodeb:В книге предлагается классифицировать информационно-измерительные и управляющие системы по типу уравнения измерения критерия управления. Приведены основные уравнения обобщенных технико-экономических критериев управления. Предложены математические модели физических процессов формирования систематической методической динамической составляющей погрешности измерения в аналоговых, цифровых и программно-аппаратных измерительных каналах и системах. Подробно рассмотрены модели метрологических характеристик виртуальных приборов и характеристик информативности интеллектуальных измерительных систем. Исследованы метрологические свойства конкретных виртуальных приборов и алгоритмов визуализации процессов измерения. Для научных работников, аспирантов и инженеров, занимающихся разработкой виртуальных приборов и исследованием метрологических характеристик информационно-измерительных и управляющих систем. Может быть полезна студентам старших курсов технических вузов при выборе тематики магистерских диссертаций, дипломных работ и проектов.
ISBN:9785922113144