Современные методы структурного анализа в материаловедении, учебное пособие

Opis bibliograficzny
1. autor: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
Korporacja: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Kolejni autorzy: Буякова С. П. Светлана Петровна
Streszczenie:В пособии описаны современные методы изучения структуры и свойств в материаловедении. Представлены различные методы структурного анализа в материаловедении. Дано описание основ метода исследования и его практического оформления. Изложены различные методы просвечивающей электронной микроскопии, методы электронно-зондового микроанализа, рентгеновской спектроскопии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров 150600 "Материаловедение и технология новых материалов".
Język:rosyjski
Wydane: Томск, Изд-во ТПУ, 2011
Hasła przedmiotowe:
Format: Książka
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=204880

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 204880
005 20241121063150.0
010 |a 9785982988645 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\223322 
035 |a RU\TPU\book\67821 
090 |a 204880 
100 |a 20111202d2011 m y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a j 001zy 
200 1 |a Современные методы структурного анализа в материаловедении  |e учебное пособие  |f С. Н. Кульков, С. П. Буякова  |g Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) 
210 |a Томск  |c Изд-во ТПУ  |d 2011 
215 |a 84 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 83. 
330 |a В пособии описаны современные методы изучения структуры и свойств в материаловедении. Представлены различные методы структурного анализа в материаловедении. Дано описание основ метода исследования и его практического оформления. Изложены различные методы просвечивающей электронной микроскопии, методы электронно-зондового микроанализа, рентгеновской спектроскопии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров 150600 "Материаловедение и технология новых материалов". 
452 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\book\229106  |t Современные методы структурного анализа в материаловедении  |o учебное пособие  |f С. Н. Кульков, С. П. Буякова  |g Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |c Томск  |n Изд-во ТПУ  |d 2011  |a Кульков, Сергей Николаевич 
606 1 |a Материалы  |x Физико-механические свойства  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\41315 
610 1 |a материаловедение 
610 1 |a рентгеноструктурный анализ 
610 1 |a рентгеновские лучи 
610 1 |a растровая электронная микроскопия 
610 1 |a рентгеноспектральный анализ 
610 1 |a нейтронография 
610 1 |a кристаллы 
610 1 |a ядерная гамма-резонансная спектроскопия 
610 1 |a учебные пособия 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
675 |a 620.22:539(075.8)  |v 3 
700 1 |a Кульков  |b С. Н.  |c специалист в области материаловедения  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |f 1952-  |g Сергей Николаевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28994 
701 1 |a Буякова  |b С. П.  |g Светлана Петровна  |c специалист в области материаловедения  |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук  |f 1968-  |y Томск  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28995  |9 13716 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |c (2009- )  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\15902 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20040521  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20120215  |g PSBO 
942 |c BK