Современные методы структурного анализа в материаловедении: учебное пособие

Современные методы структурного анализа в материаловедении: учебное пособие

Bibliographic Details
Main Author: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
Corporate Author: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Other Authors: Буякова С. П. Светлана Петровна
Summary:В пособии описаны современные методы изучения структуры и свойств в материаловедении. Представлены различные методы структурного анализа в материаловедении. Дано описание основ метода исследования и его практического оформления. Изложены различные методы просвечивающей электронной микроскопии, методы электронно-зондового микроанализа, рентгеновской спектроскопии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров 150600 "Материаловедение и технология новых материалов".
Language:Russian
Published: Томск, Изд-во ТПУ, 2011
Subjects:
Материалы > Физико-механические свойства
материаловедение
рентгеноструктурный анализ
рентгеновские лучи
растровая электронная микроскопия
рентгеноспектральный анализ
нейтронография
кристаллы
ядерная гамма-резонансная спектроскопия
учебные пособия
труды учёных ТПУ
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=204880
Description
Physical Description:84 с. ил.
Summary:В пособии описаны современные методы изучения структуры и свойств в материаловедении. Представлены различные методы структурного анализа в материаловедении. Дано описание основ метода исследования и его практического оформления. Изложены различные методы просвечивающей электронной микроскопии, методы электронно-зондового микроанализа, рентгеновской спектроскопии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров 150600 "Материаловедение и технология новых материалов".
ISBN:9785982988645

Similar Items