Ядерно-физические методы для изучения модифицированных приповерхностных областей материалов и тонких пленок: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук; спец. 01.04.01

類似資料

• Чувствительность радиоизотопных способов контроля
  著者:: Пугачев А. В. Александр Васильевич
  出版事項: (Москва, Атомиздат, 1976)
• Измерительные сканирующие приборы
  出版事項: (Москва, Машиностроение, 1980)
• Структура и свойства тонких пленок ZrO[2]:Y[2]O[3], формируемых методом магнетронного распыления: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук; спец. 01.04.07
  著者:: Шипилова А. В. Анна Викторовна
  出版事項: (Томск, 2018)
• Структура и свойства тонких пленок ZrO[2]:Y[2]O[3], формируемых методом магнетронного распыления: диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук; спец. 01.04.07
  著者:: Шипилова А. В. Анна Викторовна
  出版事項: (Томск, 2018)
• Комбинированные фотоотражательные/фотолюминесцентные измерения для исследования стабильности пассивации поверхности полупроводника; Журнал технической физики; Т. 72, вып. 2
  出版事項: (2002)