Основы электронной микроскопии: учебное пособие для вузов

Основы электронной микроскопии: учебное пособие для вузов

Bibliografiset tiedot
Päätekijä:	Бушнев Л. С. Лев Сергеевич
Yhteisötekijä:	Томский государственный университет (ТГУ) Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (СФТИ)
Muut tekijät:	Колобов Ю. Р. Юрий Романович, Мышляев М. М. Михаил Михайлович
Kieli:	venäjä
Julkaistu:	Томск, Изд-во Том. ун-та, 1990
Aiheet:	электронная микроскопия электронные микроскопы электроны дифракция электронограммы дифракционный контраст дефектные структуры вектор Бюргерса практикумы учебные пособия
Aineistotyyppi:	Kirja
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=195060

Samankaltaisia teoksia

Введение в просвечивающую электронную микроскопию твердых тел и биологических объектов: [учебное пособие]
Tekijä: Хатанова Н. А. Нина Абдуловна
Julkaistu: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1983)

Методика электронной микроскопии: пер. с нем.
Tekijä: Шиммель Г. Герхард
Julkaistu: (Москва, Мир, 1972)

Электронная микроскопия тонких кристаллов: пер. с англ.
Julkaistu: (Москва, Мир, 1968)

Практика электронной микроскопии. Методы препарирования
Tekijä: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Julkaistu: (Москва, Машгиз, 1961)

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учебное пособие; пер. с англ.
Tekijä: Брандон Д.
Julkaistu: (Москва, Техносфера, 2004)

Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: пер. с англ.
Tekijä: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Julkaistu: (Москва, Техносфера, 2010)

Применение электронной микроскопии в современной технике: тезисы докладов симпозиума
Julkaistu: (Москва, [Б. и.], 1978)

Практические методы в электронной микроскопии: пер. с англ.
Julkaistu: (Ленинград, Машиностроение, 1980)

Справочник по микроскопии для нанотехнологии: пер. с англ.
Julkaistu: (Москва, Научный мир, 2011)

Электронная микроскопия в минералогии: пер. с англ.
Julkaistu: (Москва, Мир, 1979)

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: пер. с англ.
Tekijä: Брандон Д.
Julkaistu: (Москва, Техносфера, 2006)

Физические основы методов просвечивающей электронной микроскопии
Tekijä: Стоянова И. Г. Инна Григорьевна
Julkaistu: (Москва, Наука, 1972)

Микроструктурный анализ энергонасыщенных материалов методами оптической и электронной микроскопии: методические указания
Julkaistu: (Казань, КНИТУ, 2018)

Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия: пер. с англ.
Tekijä: Синдо Д Дайзуке
Julkaistu: (Москва, Техносфера, 2006)

Основы современной микроскопии учебное пособие
Tekijä: Стельмащук О. А.
Julkaistu: (Орел, ОГУ имени И.С. Тургенева, 2025)

Структурное исследование минералов методами микродифракции электронов и электронной микроскопии высокого разрешения
Tekijä: Дриц В. А.
Julkaistu: (Москва, Наука, 1981)

Методы исследования структуры полупроводников и металлов: учебное пособие
Tekijä: Бублик В. Т. Владимир Тимофеевич
Julkaistu: (Москва, Металлургия, 1978)

Основы просвечивающей электронной микроскопии: пер. с англ.
Tekijä: Хейденрайх Р.
Julkaistu: (Москва, Мир, 1966)

Техника электронной микроскопии: пер. с англ.
Julkaistu: (Москва, Мир, 1965)

Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении: сборник статей
Julkaistu: (Москва, Металлургия, 1984)

Современные методы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
Tekijä: Миронов С. Ю.
Julkaistu: (Белгород, НИУ БелГУ, 2023)

Электронная микроскопия
Julkaistu: (Москва, Гостехиздат, 1954)

Исследование ультрадисперсного αC(3)N(4) методом просвечивающей электронной микроскопии; Современные техника и технологии; Т. 3
Tekijä: Пак А. Я. Александр Яковлевич
Julkaistu: (2011)

Методы локального анализа иэлектронная микроскопия Учебное пособие
Tekijä: Ищенко А. А.
Julkaistu: (Москва, РТУ МИРЭА, 2021)

Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие
Tekijä: Миронов В. Л.
Julkaistu: (Москва, Техносфера, 2004)

[Вып. 1]; Нанотехнологии в электронике
Julkaistu: (2005)

Техника микроскопии биологических клеток: учебное пособие
Julkaistu: (Томск, Изд-во ТПУ, 2009)

Взаимосвязь параметров тонкой дефектной структуры с уровнем механических свойств сплава Mo-Re после деформации кручением под давлением; Современные техника и технологии; Т. 2
Tekijä: Винс С. А.
Julkaistu: (2010)

Дифракционная электронная микроскопия в металловедении
Tekijä: Утевский Л. М. Лев Маркович
Julkaistu: (Москва, Металлургия, 1973)

Просвечивающая электронная микроскопия
Tekijä: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Julkaistu: (Киев, Наукова думка, 1975)

Закономерности процессов рекристаллизации субмикрокристаллической структуры, сформированной методом кручения под давлением в стали 06МБФ в разных исходных состояниях; Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций
Julkaistu: (2016)

Превращения в дислокационной структуре монокристаллов никеля; Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций
Julkaistu: (2017)

Multilevel Hierarchical Structure of Silumin Subjected to Multicycle Surface Alloying; AIP Conference Proceedings; Vol. 2167 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2019 (AMHS'19)
Julkaistu: (2019)

Structure Fragmentation of a Surface Layer of Commercial Purity Titanium During Ultrasonic Impact Treatment; AIP Conference Proceedings; Vol. 1683 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures
Julkaistu: (2015)

Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии
Julkaistu: (Москва, Наука, 2006)

Широкопольная оптическая микроскопия Учебно-методическое пособие
Tekijä: Балалаева И. В.
Julkaistu: (Нижний Новгород, ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2012)

Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
Tekijä: Миронов В. Л. Виктор Леонидович
Julkaistu: (Нижний Новгород, ИФМ РАН, 2004)

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение: пер. с англ.
Julkaistu: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013)

Окно в невидимое (электронный микроскоп)
Tekijä: Кушнир Ю. М.
Julkaistu: (Молотов, Молотовское областное издательство, 1949)

Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени: учебное пособие; пер. с англ.
Tekijä: Зевайль А. Ахмед
Julkaistu: (Долгопрудный, Интеллект, 2013)