Основы электронной микроскопии: учебное пособие для вузов

Основы электронной микроскопии: учебное пособие для вузов

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur:	Бушнев Л. С. Лев Сергеевич
Coauteur:	Томский государственный университет (ТГУ) Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (СФТИ)
Andere auteurs:	Колобов Ю. Р. Юрий Романович, Мышляев М. М. Михаил Михайлович
Taal:	Russisch
Gepubliceerd in:	Томск, Изд-во Том. ун-та, 1990
Onderwerpen:	электронная микроскопия электронные микроскопы электроны дифракция электронограммы дифракционный контраст дефектные структуры вектор Бюргерса практикумы учебные пособия
Formaat:	Boek
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=195060

Gelijkaardige items

Введение в просвечивающую электронную микроскопию твердых тел и биологических объектов: [учебное пособие]
door: Хатанова Н. А. Нина Абдуловна
Gepubliceerd in: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1983)

Методика электронной микроскопии: пер. с нем.
door: Шиммель Г. Герхард
Gepubliceerd in: (Москва, Мир, 1972)

Электронная микроскопия тонких кристаллов: пер. с англ.
Gepubliceerd in: (Москва, Мир, 1968)

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учебное пособие; пер. с англ.
door: Брандон Д.
Gepubliceerd in: (Москва, Техносфера, 2004)

Применение электронной микроскопии в современной технике: тезисы докладов симпозиума
Gepubliceerd in: (Москва, [Б. и.], 1978)

Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: пер. с англ.
door: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Gepubliceerd in: (Москва, Техносфера, 2010)

Практика электронной микроскопии. Методы препарирования
door: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Gepubliceerd in: (Москва, Машгиз, 1961)

Справочник по микроскопии для нанотехнологии: пер. с англ.
Gepubliceerd in: (Москва, Научный мир, 2011)

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: пер. с англ.
door: Брандон Д.
Gepubliceerd in: (Москва, Техносфера, 2006)

Электронная микроскопия в минералогии: пер. с англ.
Gepubliceerd in: (Москва, Мир, 1979)

Практические методы в электронной микроскопии: пер. с англ.
Gepubliceerd in: (Ленинград, Машиностроение, 1980)

Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия: пер. с англ.
door: Синдо Д Дайзуке
Gepubliceerd in: (Москва, Техносфера, 2006)

Физические основы методов просвечивающей электронной микроскопии
door: Стоянова И. Г. Инна Григорьевна
Gepubliceerd in: (Москва, Наука, 1972)

Микроструктурный анализ энергонасыщенных материалов методами оптической и электронной микроскопии: методические указания
Gepubliceerd in: (Казань, КНИТУ, 2018)

Методы исследования структуры полупроводников и металлов: учебное пособие
door: Бублик В. Т. Владимир Тимофеевич
Gepubliceerd in: (Москва, Металлургия, 1978)

Структурное исследование минералов методами микродифракции электронов и электронной микроскопии высокого разрешения
door: Дриц В. А.
Gepubliceerd in: (Москва, Наука, 1981)

Основы современной микроскопии учебное пособие
door: Стельмащук О. А.
Gepubliceerd in: (Орел, ОГУ имени И.С. Тургенева, 2025)

Техника электронной микроскопии: пер. с англ.
Gepubliceerd in: (Москва, Мир, 1965)

Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении: сборник статей
Gepubliceerd in: (Москва, Металлургия, 1984)

Электронная микроскопия
Gepubliceerd in: (Москва, Гостехиздат, 1954)

Основы просвечивающей электронной микроскопии: пер. с англ.
door: Хейденрайх Р.
Gepubliceerd in: (Москва, Мир, 1966)

Методы локального анализа иэлектронная микроскопия Учебное пособие
door: Ищенко А. А.
Gepubliceerd in: (Москва, РТУ МИРЭА, 2021)

[Вып. 1]; Нанотехнологии в электронике
Gepubliceerd in: (2005)

Взаимосвязь параметров тонкой дефектной структуры с уровнем механических свойств сплава Mo-Re после деформации кручением под давлением; Современные техника и технологии; Т. 2
door: Винс С. А.
Gepubliceerd in: (2010)

Современные методы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
door: Миронов С. Ю.
Gepubliceerd in: (Белгород, НИУ БелГУ, 2023)

Исследование ультрадисперсного αC(3)N(4) методом просвечивающей электронной микроскопии; Современные техника и технологии; Т. 3
door: Пак А. Я. Александр Яковлевич
Gepubliceerd in: (2011)

Техника микроскопии биологических клеток: учебное пособие
Gepubliceerd in: (Томск, Изд-во ТПУ, 2009)

Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие
door: Миронов В. Л.
Gepubliceerd in: (Москва, Техносфера, 2004)

Дифракционная электронная микроскопия в металловедении
door: Утевский Л. М. Лев Маркович
Gepubliceerd in: (Москва, Металлургия, 1973)

Закономерности процессов рекристаллизации субмикрокристаллической структуры, сформированной методом кручения под давлением в стали 06МБФ в разных исходных состояниях; Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций
Gepubliceerd in: (2016)

Превращения в дислокационной структуре монокристаллов никеля; Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций
Gepubliceerd in: (2017)

Просвечивающая электронная микроскопия
door: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Gepubliceerd in: (Киев, Наукова думка, 1975)

Multilevel Hierarchical Structure of Silumin Subjected to Multicycle Surface Alloying; AIP Conference Proceedings; Vol. 2167 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2019 (AMHS'19)
Gepubliceerd in: (2019)

Structure Fragmentation of a Surface Layer of Commercial Purity Titanium During Ultrasonic Impact Treatment; AIP Conference Proceedings; Vol. 1683 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures
Gepubliceerd in: (2015)

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение: пер. с англ.
Gepubliceerd in: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013)

Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии
Gepubliceerd in: (Москва, Наука, 2006)

Окно в невидимое (электронный микроскоп)
door: Кушнир Ю. М.
Gepubliceerd in: (Молотов, Молотовское областное издательство, 1949)

Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов: пер. с англ.
door: Фульц Б. Брент
Gepubliceerd in: (Москва, Техносфера, 2011)

Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени: учебное пособие; пер. с англ.
door: Зевайль А. Ахмед
Gepubliceerd in: (Долгопрудный, Интеллект, 2013)

Окно в невидимое (электронный микроскоп)
door: Кушнир Ю. М.
Gepubliceerd in: (Москва, ОГИЗ, 1947)