MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 195060
005 20231031182633.0
010 |a 5751102762 
020 |a RU  |b 90-65385 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\212782 
090 |a 195060 
100 |a 20110503d1990 m y0rusy5003 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a j 001zy 
200 1 |a Основы электронной микроскопии  |e учебное пособие для вузов  |f Л. С. Бушнев, Ю. Р. Колобов, М. М. Мышляев  |g Томский государственный университет (ТГУ), Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (СФТИ) 
210 |a Томск  |c Изд-во Том. ун-та  |d 1990 
215 |a 218 с.  |c ил.  |d 20 см  |e Прил. (1 л. ил.) 
320 |a Библиогр.: с. 215. 
610 1 |a электронная микроскопия 
610 1 |a электронные микроскопы 
610 1 |a электроны 
610 1 |a дифракция 
610 1 |a электронограммы 
610 1 |a дифракционный контраст 
610 1 |a дефектные структуры 
610 1 |a вектор Бюргерса 
610 1 |a практикумы 
610 1 |a учебные пособия 
675 |a 537.533.3(075.8)  |z rus 
700 1 |a Бушнев  |b Л. С.  |g Лев Сергеевич  |4 070 
701 1 |a Колобов  |b Ю. Р.  |g Юрий Романович 
701 1 |a Мышляев  |b М. М.  |g Михаил Михайлович 
712 0 2 |a Томский государственный университет (ТГУ)  |b Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (СФТИ)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\861 
801 0 |a RU  |b RuMRKP  |c 19950417  |g psbo 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20110503 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20220210  |g RCR 
942 |c BK