№ 6 (12); Качество и надежность изделий; Ускоренные испытания элементов и систем; Элементы физико-статистической теории надежности интегральных микросхем

№ 6 (12); Качество и надежность изделий; Ускоренные испытания элементов и систем; Элементы физико-статистической теории надежности интегральных микросхем

Dades bibliogràfiques
Parent link:Качество и надежность изделий: для слушателей лекций Консультационного центра по качеству и надежности/ Политехнический музей ; Всесоюзное общество "Знание" ; СССР, Государственный комитет по стандартам (Госстандарт). № 6 (12).— , 1988-1991
Idioma:rus
Publicat: 1990
TOC:Г. Д. Карташов, Ускоренные испытания элементов и систем;
И. Т. Алексанян, Элементы физико-статистической теории надежности интегральных микросхем;
Matèries:
интегральные микросхемы
микроэлектронные схемы
элементы
системы
испытания
надежность
статистическая теория
лекции
Format: Llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=195004

Ítems similars

Ítems similars