|
|
|
|
| LEADER |
00000nam2a2200000 4500 |
| 001 |
195004 |
| 005 |
20231031182559.0 |
| 010 |
|
|
|a 5070014013
|
| 020 |
|
|
|a RU
|b 90-56939
|
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\book\212685
|
| 090 |
|
|
|a 195004
|
| 100 |
|
|
|a 20110428d1990 k y0rusy5003 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a a jz 001zy
|
| 200 |
0 |
|
|a № 6 (12)
|
| 210 |
|
|
|d 1990
|
| 215 |
|
|
|a 91 с.
|c ил.
|
| 320 |
|
|
|a Библиогр.: с. 39-41, 88-89.
|
| 461 |
|
1 |
|0 (RuTPU)RU\TPU\book\213148
|t Качество и надежность изделий
|o для слушателей лекций Консультационного центра по качеству и надежности
|f Политехнический музей ; Всесоюзное общество "Знание" ; СССР, Государственный комитет по стандартам (Госстандарт)
|v № 6 (12)
|d 1988-1991
|
| 464 |
|
|
|t Ускоренные испытания элементов и систем
|f Г. Д. Карташов
|
| 464 |
|
|
|t Элементы физико-статистической теории надежности интегральных микросхем
|f И. Т. Алексанян
|
| 610 |
1 |
|
|a интегральные микросхемы
|
| 610 |
1 |
|
|a микроэлектронные схемы
|
| 610 |
1 |
|
|a элементы
|
| 610 |
1 |
|
|a системы
|
| 610 |
1 |
|
|a испытания
|
| 610 |
1 |
|
|a надежность
|
| 610 |
1 |
|
|a статистическая теория
|
| 610 |
1 |
|
|a лекции
|
| 675 |
|
|
|a 658.562.6(07)
|z rus
|v 3
|
| 675 |
|
|
|a 62-192(07)
|z rus
|
| 801 |
|
0 |
|a RU
|b RuMRKP
|c 19960705
|g psbo
|
| 801 |
|
1 |
|a RU
|b 63413507
|c 20110428
|
| 801 |
|
2 |
|a RU
|b 63413507
|c 20140123
|g RCR
|
| 942 |
|
|
|c BK
|
