Микроанализ и растровая электронная микроскопия: пер. с фр.

Микроанализ и растровая электронная микроскопия: пер. с фр.

Dades bibliogràfiques
Altres autors:	Морис Ф. (редактор), Мени Л., Тиксье Р.
Idioma:	rus
Publicat:	Москва, Металлургия, 1985
Matèries:	электронная микроскопия Оже-спектроскопия масс-спектроскопия вторичные ионы микроанализ микрозонды ЭВМ материаловедение
Format:	Llibre
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=191261

Ítems similars

Растровая электронная микроскопия. Разрушение: справочник; пер. с нем.
per: Энгель Л.
Publicat: (Москва, Металлургия, 1986)

Кн. 1; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Publicat: (1984)

Кн. 2; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Publicat: (1984)

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: пер. с англ.
per: Брандон Д.
Publicat: (Москва, Техносфера, 2006)

Тезисы докладов IV Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел - "РЭМ-84", апрель 1984 г., г. Звенигород
Publicat: (Москва, Изд-во МГУ, 1984)

Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии: пер. с англ.
per: Рид С. Дж. Б.
Publicat: (Москва, Техносфера, 2008)

Детали мехатронных модулей, роботов и их конструкций. Инструментальные методы контроля химического состава и структуры функциональных покрытий учебное пособие
per: Грибанов Е. Н.
Publicat: (Орел, ОГУ имени И.С. Тургенева, 2025)

Зондирующие методы исследований в материаловедении: учебное пособие
per: Карпасюк В. К. Владимир Корнилович
Publicat: (Астрахань, Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014)

Применение электронной микроскопии в современной технике: тезисы докладов симпозиума
Publicat: (Москва, [Б. и.], 1978)

Фундаментальные основы анализа нанопленок: пер. с англ.
per: Альфорд Т. Терри Л.
Publicat: (Москва, Научный мир, 2012)

Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
per: Пилюгин С. М.
Publicat: (Воронеж, ВГУ, 2019)

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение: пер. с англ.
Publicat: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013)

Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие
Publicat: (Москва, Техносфера, 2009)

Практическая растровая электронная микроскопия: пер. с англ.
Publicat: (Москва, Мир, 1978)

Современная электронная микроскопия в исследовании вещества
Publicat: (Москва, Наука, 1982)

Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия: пер. с англ.
per: Синдо Д Дайзуке
Publicat: (Москва, Техносфера, 2006)

Введение в нанотехнологию
per: Марголин В. И.
Publicat: (Санкт-Петербург, Лань, 2022)

Ионный микрозондовый анализ
per: Черепин В. Т. Валентин Тихонович
Publicat: (Киев, Наукова думка, 1992)

Растровая электронная микроскопия учебное пособие
per: Сахаров Н. В.
Publicat: (Нижний Новгород, ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2020)

Лабораторные методы изучения минерального сырья: учебное пособие
per: Синкина Е. А. Екатерина Андреевна
Publicat: (Томск, Изд-во ТПУ, 2023)

Лабораторные методы изучения минерального сырья: учебное пособие
per: Синкина Е. А. Екатерина Андреевна
Publicat: (Томск, Ид-во ТПУ, 2023)

Растровая оптическая микроскопия
per: Дюков Валентин Георгиевич
Publicat: (Москва, Наука, 1992)

Методы локального анализа иэлектронная микроскопия Учебное пособие
per: Ищенко А. А.
Publicat: (Москва, РТУ МИРЭА, 2021)

Высокоточный метод оже-анализа состава неочищенной поверхности окисла кремния; Измерительная техника; № 10
per: Костишко Б. М.
Publicat: (2004)

Ионный зонд
per: Черепин В. Т. Валентин Тихонович
Publicat: (Киев, Наукова думка, 1981)

Электронная спектроскопия кристаллов
per: Немошкаленко В. В. Владимир Владимирович
Publicat: (Киев, Наукова думка, 1983)

Нанотехнологии. Получение, методы контроля и международная стандартизация наноматериалов учебное пособие
per: Пломодьяло Р. Л.
Publicat: (Краснодар, КубГТУ, 2018)

Дифракционная электронная микроскопия в металловедении
per: Утевский Л. М. Лев Маркович
Publicat: (Москва, Металлургия, 1973)

Ионная оже-спектроскопия: учебное пособие
per: Дорожкин А. А. Андрей Андреевич
Publicat: (Ленинград, Изд-во ЛПИ, 1983)

Металлы и сплавы: анализ и исследование. Масс-спектрометрия. Ядерно-физические и радиохимические методы. Газы в металлах: справочник
Publicat: (Санкт-Петербург, Профессионал, 2008)

Элементарные процессы с участием многозарядных ионов
per: Пресняков Л. П. Леонид Петрович
Publicat: (Москва, Энергоатомиздат, 1986)

Особенности дисперсионного анализа суспензий с разной концентрацией наночастиц; Химия и химическая технология в XXI веке
per: Карепина Е. Е.
Publicat: (2016)

Оже-спектроскопия механоактивированных порошков диборида циркония; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 318, № 2 : Математика и механика. Физика
Publicat: (2011)

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учебное пособие; пер. с англ.
per: Брандон Д.
Publicat: (Москва, Техносфера, 2004)

Электронная и ионная спектроскопия твердых тел: пер. с англ.
Publicat: (Москва, Мир, 1981)

Количественный электронно-зондовый микроанализ: пер. с англ.
Publicat: (Москва, Мир, 1986)

Современные методы структурного анализа в материаловедении: учебное пособие
per: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
Publicat: (Томск, Изд-во ТПУ, 2011)

Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов
per: Ковалев А. И. Анатолий Иванович
Publicat: (Москва, Металлургия, 1989)

Микроанализ производительности вычислительных систем: пер. с англ.
per: Байцер Б. Борис
Publicat: (Москва, Радио и связь, 1983)

Седьмая Всесоюзная конференция по локальным рентгеноспектральным исследованиям и их применению, Черноголовка, 28-30 ноября 1979 г.: тезисы докладов
Publicat: (Черноголовка, Изд-во ОИХФ АН СССР, 1979)