Микроанализ и растровая электронная микроскопия: пер. с фр.

Микроанализ и растровая электронная микроскопия: пер. с фр.

Dettagli Bibliografici
Altri autori:	Морис Ф. (редактор), Мени Л., Тиксье Р.
Lingua:	russo
Pubblicazione:	Москва, Металлургия, 1985
Soggetti:	электронная микроскопия Оже-спектроскопия масс-спектроскопия вторичные ионы микроанализ микрозонды ЭВМ материаловедение
Natura:	MixedMaterials Libro
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=191261

Documenti analoghi

Растровая электронная микроскопия. Разрушение: справочник; пер. с нем.
di: Энгель Л.
Pubblicazione: (Москва, Металлургия, 1986)

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: пер. с англ.
di: Брандон Д.
Pubblicazione: (Москва, Техносфера, 2006)

Кн. 1; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Pubblicazione: (1984)

Кн. 2; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Pubblicazione: (1984)

Тезисы докладов IV Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел - "РЭМ-84", апрель 1984 г., г. Звенигород
Pubblicazione: (Москва, Изд-во МГУ, 1984)

Зондирующие методы исследований в материаловедении: учебное пособие
di: Карпасюк В. К. Владимир Корнилович
Pubblicazione: (Астрахань, Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014)

Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии: пер. с англ.
di: Рид С. Дж. Б.
Pubblicazione: (Москва, Техносфера, 2008)

Применение электронной микроскопии в современной технике: тезисы докладов симпозиума
Pubblicazione: (Москва, [Б. и.], 1978)

Фундаментальные основы анализа нанопленок: пер. с англ.
di: Альфорд Т. Терри Л.
Pubblicazione: (Москва, Научный мир, 2012)

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение: пер. с англ.
Pubblicazione: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013)

Введение в нанотехнологию
di: Марголин В. И.
Pubblicazione: (Санкт-Петербург, Лань, 2022)

Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
di: Пилюгин С. М.
Pubblicazione: (Воронеж, ВГУ, 2019)

Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие
Pubblicazione: (Москва, Техносфера, 2009)

Современная электронная микроскопия в исследовании вещества
Pubblicazione: (Москва, Наука, 1982)

Лабораторные методы изучения минерального сырья: учебное пособие
di: Синкина Е. А. Екатерина Андреевна
Pubblicazione: (Томск, Изд-во ТПУ, 2023)

Ионный микрозондовый анализ
di: Черепин В. Т. Валентин Тихонович
Pubblicazione: (Киев, Наукова думка, 1992)

Лабораторные методы изучения минерального сырья: учебное пособие
di: Синкина Е. А. Екатерина Андреевна
Pubblicazione: (Томск, Ид-во ТПУ, 2023)

Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия: пер. с англ.
di: Синдо Д Дайзуке
Pubblicazione: (Москва, Техносфера, 2006)

Практическая растровая электронная микроскопия: пер. с англ.
Pubblicazione: (Москва, Мир, 1978)

Растровая электронная микроскопия учебное пособие
di: Сахаров Н. В.
Pubblicazione: (Нижний Новгород, ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2020)

Электронная спектроскопия кристаллов
di: Немошкаленко В. В. Владимир Владимирович
Pubblicazione: (Киев, Наукова думка, 1983)

Нанотехнологии. Получение, методы контроля и международная стандартизация наноматериалов учебное пособие
di: Пломодьяло Р. Л.
Pubblicazione: (Краснодар, КубГТУ, 2018)

Ионный зонд
di: Черепин В. Т. Валентин Тихонович
Pubblicazione: (Киев, Наукова думка, 1981)

Высокоточный метод оже-анализа состава неочищенной поверхности окисла кремния; Измерительная техника; № 10
di: Костишко Б. М.
Pubblicazione: (2004)

Металлы и сплавы: анализ и исследование. Масс-спектрометрия. Ядерно-физические и радиохимические методы. Газы в металлах: справочник
Pubblicazione: (Санкт-Петербург, Профессионал, 2008)

Элементарные процессы с участием многозарядных ионов
di: Пресняков Л. П. Леонид Петрович
Pubblicazione: (Москва, Энергоатомиздат, 1986)

Ионная оже-спектроскопия: учебное пособие
di: Дорожкин А. А. Андрей Андреевич
Pubblicazione: (Ленинград, Изд-во ЛПИ, 1983)

Методы локального анализа иэлектронная микроскопия Учебное пособие
di: Ищенко А. А.
Pubblicazione: (Москва, РТУ МИРЭА, 2021)

Особенности дисперсионного анализа суспензий с разной концентрацией наночастиц; Химия и химическая технология в XXI веке
di: Карепина Е. Е.
Pubblicazione: (2016)

Оже-спектроскопия механоактивированных порошков диборида циркония; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 318, № 2 : Математика и механика. Физика
Pubblicazione: (2011)

Дифракционная электронная микроскопия в металловедении
di: Утевский Л. М. Лев Маркович
Pubblicazione: (Москва, Металлургия, 1973)

Современные методы структурного анализа в материаловедении: учебное пособие
di: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
Pubblicazione: (Томск, Изд-во ТПУ, 2011)

Растровая оптическая микроскопия
di: Дюков Валентин Георгиевич
Pubblicazione: (Москва, Наука, 1992)

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учебное пособие; пер. с англ.
di: Брандон Д.
Pubblicazione: (Москва, Техносфера, 2004)

Электронная и ионная спектроскопия твердых тел: пер. с англ.
Pubblicazione: (Москва, Мир, 1981)

Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов
di: Ковалев А. И. Анатолий Иванович
Pubblicazione: (Москва, Металлургия, 1989)

Седьмая Всесоюзная конференция по локальным рентгеноспектральным исследованиям и их применению, Черноголовка, 28-30 ноября 1979 г.: тезисы докладов
Pubblicazione: (Черноголовка, Изд-во ОИХФ АН СССР, 1979)

Методы исследования материалов
di: Газенаур Е. Г.
Pubblicazione: (Кемерово, КемГУ, 2013)

Диагностика поверхности ионными пучками: тезисы докладов Всесоюзного совещания - семинара 17-27 сентября
Pubblicazione: (Донецк, [Б. и.], 1980)

Современные методы структурного анализа в материаловедении: учебное пособие
di: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
Pubblicazione: (Томск, Изд-во ТПУ, 2004)