Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: пер. с англ.
| मुख्य लेखक: | |
|---|---|
| सारांश: | Растровые и просвечивающие электронные микроскопы стали незаменимыми приборами для исследований в материаловедении, полупроводниковой промышленности, нанотехнологиях, а также в биологии и медицине. В данной монографии излагается введение в теорию и современную практику электронной микроскопии. Книга предназначена для студентов старших курсов, которые хотели бы углубить свои знания об основных физических принципах микроскопии, для молодых специалистов, которые пользуются электронными микроскопами, а также для преподавателей вузов и исследователей. |
| भाषा: | रूसी |
| प्रकाशित: |
Москва, Техносфера, 2010
|
| श्रृंखला: | Мир физики и техники |
| विषय: | |
| स्वरूप: | पुस्तक |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=186724 |
समान संसाधन
Введение в просвечивающую электронную микроскопию твердых тел и биологических объектов: [учебное пособие]
द्वारा: Хатанова Н. А. Нина Абдуловна
प्रकाशित: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1983)
द्वारा: Хатанова Н. А. Нина Абдуловна
प्रकाशित: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1983)
Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени: учебное пособие; пер. с англ.
द्वारा: Зевайль А. Ахмед
प्रकाशित: (Долгопрудный, Интеллект, 2013)
द्वारा: Зевайль А. Ахмед
प्रकाशित: (Долгопрудный, Интеллект, 2013)
Методика электронной микроскопии: пер. с нем.
द्वारा: Шиммель Г. Герхард
प्रकाशित: (Москва, Мир, 1972)
द्वारा: Шиммель Г. Герхард
प्रकाशित: (Москва, Мир, 1972)
Введение в растровую электронную микроскопию
द्वारा: Сапарин Г. В. Геннадий Васильевич
प्रकाशित: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1988)
द्वारा: Сапарин Г. В. Геннадий Васильевич
प्रकाशित: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1988)
Применение электронной микроскопии в современной технике: тезисы докладов симпозиума
प्रकाशित: (Москва, [Б. и.], 1978)
प्रकाशित: (Москва, [Б. и.], 1978)
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие
प्रकाशित: (Москва, Техносфера, 2009)
प्रकाशित: (Москва, Техносфера, 2009)
Кн. 1; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
प्रकाशित: (1984)
प्रकाशित: (1984)
Электронная микроскопия
प्रकाशित: (Москва, Гостехиздат, 1954)
प्रकाशित: (Москва, Гостехиздат, 1954)
Тезисы докладов VI Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-89): Звенигород, апрель 1989 г.
प्रकाशित: (Звенигород, Изд-во АН СССР, 1989)
प्रकाशित: (Звенигород, Изд-во АН СССР, 1989)
Тезисы докладов IV Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел - "РЭМ-84", апрель 1984 г., г. Звенигород
प्रकाशित: (Москва, Изд-во МГУ, 1984)
प्रकाशित: (Москва, Изд-во МГУ, 1984)
Методы локального анализа иэлектронная микроскопия Учебное пособие
द्वारा: Ищенко А. А.
प्रकाशित: (Москва, РТУ МИРЭА, 2021)
द्वारा: Ищенко А. А.
प्रकाशित: (Москва, РТУ МИРЭА, 2021)
Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов: пер. с англ.
द्वारा: Фульц Б. Брент
प्रकाशित: (Москва, Техносфера, 2011)
द्वारा: Фульц Б. Брент
प्रकाशित: (Москва, Техносфера, 2011)
Просвечивающая электронная микроскопия
द्वारा: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
प्रकाशित: (Киев, Наукова думка, 1975)
द्वारा: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
प्रकाशित: (Киев, Наукова думка, 1975)
Основы электронной микроскопии: учебное пособие для вузов
द्वारा: Бушнев Л. С. Лев Сергеевич
प्रकाशित: (Томск, Изд-во Том. ун-та, 1990)
द्वारा: Бушнев Л. С. Лев Сергеевич
प्रकाशित: (Томск, Изд-во Том. ун-та, 1990)
Дифракционная электронная микроскопия в металловедении
द्वारा: Утевский Л. М. Лев Маркович
प्रकाशित: (Москва, Металлургия, 1973)
द्वारा: Утевский Л. М. Лев Маркович
प्रकाशित: (Москва, Металлургия, 1973)
Микроструктурный анализ энергонасыщенных материалов методами оптической и электронной микроскопии: методические указания
प्रकाशित: (Казань, КНИТУ, 2018)
प्रकाशित: (Казань, КНИТУ, 2018)
Кн. 2; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
प्रकाशित: (1984)
प्रकाशित: (1984)
Справочник по микроскопии для нанотехнологии: пер. с англ.
प्रकाशित: (Москва, Научный мир, 2011)
प्रकाशित: (Москва, Научный мир, 2011)
Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии
प्रकाशित: (Москва, Наука, 2006)
प्रकाशित: (Москва, Наука, 2006)
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия: пер. с англ.
द्वारा: Синдо Д Дайзуке
प्रकाशित: (Москва, Техносфера, 2006)
द्वारा: Синдо Д Дайзуке
प्रकाशित: (Москва, Техносфера, 2006)
Техника микроскопии биологических клеток: учебное пособие
प्रकाशित: (Томск, Изд-во ТПУ, 2009)
प्रकाशित: (Томск, Изд-во ТПУ, 2009)
Bildinterpretation in der Hochauflosungs-Elektronenmikroskopie
प्रकाशित: (Berlin, Akademie-Verlag, 1984)
प्रकाशित: (Berlin, Akademie-Verlag, 1984)
Вып. 2; Приборы и методы физического металловедения
प्रकाशित: (1974)
प्रकाशित: (1974)
Электронная микроскопия минералов. Аппаратура, методы исследования и техника препарирования
द्वारा: Грицаенко Г. С. Галина Савиновна
प्रकाशित: (Москва, Изд-во АН СССР, 1961)
द्वारा: Грицаенко Г. С. Галина Савиновна
प्रकाशित: (Москва, Изд-во АН СССР, 1961)
Введение в электронную микроскопию минералов: учебное пособие
द्वारा: Сергеева Н. Е. Нина Евгеньевна
प्रकाशित: (Москва, Изд-во Моск. ун-та, 1977)
द्वारा: Сергеева Н. Е. Нина Евгеньевна
प्रकाशित: (Москва, Изд-во Моск. ун-та, 1977)
Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие
द्वारा: Миронов В. Л.
प्रकाशित: (Москва, Техносфера, 2004)
द्वारा: Миронов В. Л.
प्रकाशित: (Москва, Техносфера, 2004)
Structural and Phase Transformations in 0.3С-1Cr-1Mn-1Si-Fe Steel after Electrolytic Plasma Treatment; AIP Conference Proceedings; Vol. 1783 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016
प्रकाशित: (2016)
प्रकाशित: (2016)
Phase Composition of Heat-Resisting Alloy Modified by Ageing and Alloyed by Rhenium; AIP Conference Proceedings; Vol. 1783 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016
प्रकाशित: (2016)
प्रकाशित: (2016)
Микроскопические методы исследования материалов: пер. с англ.
द्वारा: Кларк Э. Р. Эшли Р.
प्रकाशित: (Москва, Техносфера, 2007)
द्वारा: Кларк Э. Р. Эшли Р.
प्रकाशित: (Москва, Техносфера, 2007)
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии: пер. с англ.
द्वारा: Рид С. Дж. Б.
प्रकाशित: (Москва, Техносфера, 2008)
द्वारा: Рид С. Дж. Б.
प्रकाशित: (Москва, Техносфера, 2008)
Практические методы в электронной микроскопии: пер. с англ.
प्रकाशित: (Ленинград, Машиностроение, 1980)
प्रकाशित: (Ленинград, Машиностроение, 1980)
Internal stresses and structure of multilayer coatings on the basis of Zr-Y-O/Si-Al-N; AIP Conference Proceedings; Vol. 1623 : International Conference on Physical Mesomechanics of Multilevel Systems 2014, Tomsk, Russia, 3–5 September 2014
प्रकाशित: (2014)
प्रकाशित: (2014)
Развитие метода электронной микроскопии для изучения стехиометрических процессов с участием соединений переходных металлов и каталитических реакций тонкого органического синтеза в однородных и структурированных жидких средах: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора химических наук; спец. 1.4.14
द्वारा: Кашин А. С. Алексей Сергеевич
प्रकाशित: (Москва, 2024)
द्वारा: Кашин А. С. Алексей Сергеевич
प्रकाशित: (Москва, 2024)
Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
द्वारा: Миронов В. Л. Виктор Леонидович
प्रकाशित: (Нижний Новгород, ИФМ РАН, 2004)
द्वारा: Миронов В. Л. Виктор Леонидович
प्रकाशित: (Нижний Новгород, ИФМ РАН, 2004)
The fine structure of coatings on the basis Ni-Al formed by the magnetron method; AIP Conference Proceedings; Vol. 1623 : International Conference on Physical Mesomechanics of Multilevel Systems 2014, Tomsk, Russia, 3–5 September 2014
प्रकाशित: (2014)
प्रकाशित: (2014)
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение: пер. с англ.
प्रकाशित: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013)
प्रकाशित: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013)
Методы исследования структуры полупроводников и металлов: учебное пособие
द्वारा: Бублик В. Т. Владимир Тимофеевич
प्रकाशित: (Москва, Металлургия, 1978)
द्वारा: Бублик В. Т. Владимир Тимофеевич
प्रकाशित: (Москва, Металлургия, 1978)
Конфокальная микроскопия и ультрамикроскопия живой клетки
द्वारा: Свищев Г. М.
प्रकाशित: (Москва, ФИЗМАТЛИТ, 2011)
द्वारा: Свищев Г. М.
प्रकाशित: (Москва, ФИЗМАТЛИТ, 2011)
Электронная оптика
द्वारा: Кельман В. А. Вениамин Алексеевич
प्रकाशित: (Москва, Изд-во АН СССР, 1963)
द्वारा: Кельман В. А. Вениамин Алексеевич
प्रकाशित: (Москва, Изд-во АН СССР, 1963)
Физические основы методов просвечивающей электронной микроскопии
द्वारा: Стоянова И. Г. Инна Григорьевна
प्रकाशित: (Москва, Наука, 1972)
द्वारा: Стоянова И. Г. Инна Григорьевна
प्रकाशित: (Москва, Наука, 1972)