Нанометрология

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Сергеев А. Г. Александр Григорьевич
Shrnutí:Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы_нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям -поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008—2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологий, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.
Jazyk:ruština
Vydáno: Москва, Логос, 2011
Témata:
Médium: Kniha
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=184719

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 184719
005 20231101223850.0
010 |a 9785987044940 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\200329 
090 |a 184719 
100 |a 20100920d2011 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Нанометрология  |f А. Г. Сергеев 
210 |a Москва  |c Логос  |d 2011 
215 |a 416 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 409-413. 
330 |a Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы_нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям -поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008—2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологий, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях. 
606 1 |a Метрология  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\43497  |9 62988 
610 1 |a нанометрология 
610 1 |a история 
610 1 |a Россия 
610 1 |a зарубежные страны 
610 1 |a техническое обеспечение 
610 1 |a интерференционные измерения 
610 1 |a наноизмерения 
610 1 |a сканирующая зондовая микроскопия 
610 1 |a спектроскопия 
610 1 |a хроматография 
610 1 |a нестабильность 
610 1 |a точность 
610 1 |a неопределенность 
610 1 |a поверка 
610 1 |a калибровка 
610 1 |a организационные основы 
675 |a 006  |v 4 
700 1 |a Сергеев  |b А. Г.  |g Александр Григорьевич 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20100920 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20150428  |g RCR 
900 |a Метрология, стандартизация и сертификация 
942 |c BK 
959 |a 63/20100915  |d 10  |e 275,00  |f АНЛ:1  |f ЧЗТЛ:1  |f УФ:8 
959 |a 73/20110904  |d 10  |e 440,00  |f ЧЗТЛ:1  |f АНЛ:1  |f УФ:8