Повышение метрологических свойств контрольных образцов для магнитной дефектоскопии; Современные техника и технологии; Т. 1

Détails bibliographiques
Parent link:Современные техника и технологии: X Юбилейная международная научно-практическая конференция студентов, аспирантов и молодых ученых, посвященная 400-летию г. Томска, Томск, 29 марта - 2 апреля 2004 г./ Томский политехнический университет.— , 2004
Т. 1.— 2004.— С. 117-119
Auteur principal: Прошутина Р. В.
Autres auteurs: Толмачёв И. И. Игорь Иванович
Langue:russe
Publié: 2004
Sujets:
Format: Chapitre de livre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=183131