Повышение метрологических свойств контрольных образцов для магнитной дефектоскопии; Современные техника и технологии; Т. 1
| Источник: | Современные техника и технологии: X Юбилейная международная научно-практическая конференция студентов, аспирантов и молодых ученых, посвященная 400-летию г. Томска, Томск, 29 марта - 2 апреля 2004 г./ Томский политехнический университет.— , 2004 Т. 1.— 2004.— С. 117-119 |
|---|---|
| Главный автор: | |
| Другие авторы: | |
| Язык: | русский |
| Опубликовано: |
2004
|
| Предметы: | |
| Формат: | Статья |
| Запись в KOHA: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=183131 |
| Недоступно описание. |