Прошутина Р. В. & Толмачёв И. И. Игорь Иванович. (2004). Повышение метрологических свойств контрольных образцов для магнитной дефектоскопии; Современные техника и технологии; Т. 1. 2004.
Chicago Style (17th ed.) CitationПрошутина Р. В. and Толмачёв И. И. Игорь Иванович. Повышение метрологических свойств контрольных образцов для магнитной дефектоскопии; Современные техника и технологии; Т. 1. 2004, 2004.
MLA (9th ed.) CitationПрошутина Р. В. and Толмачёв И. И. Игорь Иванович. Повышение метрологических свойств контрольных образцов для магнитной дефектоскопии; Современные техника и технологии; Т. 1. 2004, 2004.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.