Формирование тонких пленок в силикофосфатной системе; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 316, № 3: Химия

מידע ביבליוגרפי
Parent link:Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000-
Т. 316, № 3: Химия.— 2010.— [С. 23-27]
מחבר ראשי: Петровская Т. С. Татьяна Семёновна
מחברים אחרים: Козик В. В., Борило Л. П.
סיכום:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
Золь-гель методом синтезированы тонкие пленки в системе SiO2 - P2O5. Изучены физико-химические процессы в растворах, а также при термической обработке пленок. Определены условия получения пленок разной толщины. Рассчитаны кинетические параметры, и проведен сравнительный анализ процессов синтеза SiO2 в тонкой пленке и дисперсной фазе.
שפה:רוסית
יצא לאור: 2010
סדרה:Химия
נושאים:
גישה מקוונת:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2010/v316/i3/04.pdf
פורמט: אלקטרוני Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=182872
תיאור
תיאור פיזי:1 файл (232 Кб)
סיכום:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
Золь-гель методом синтезированы тонкие пленки в системе SiO2 - P2O5. Изучены физико-химические процессы в растворах, а также при термической обработке пленок. Определены условия получения пленок разной толщины. Рассчитаны кинетические параметры, и проведен сравнительный анализ процессов синтеза SiO2 в тонкой пленке и дисперсной фазе.