Концентрация и температура электронов в плазме диффузного разряда, формируемого при высоких перенапряжениях в плотных газах; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 316, № 2: Математика и механика. Физика
| Parent link: | Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000- Т. 316, № 2: Математика и механика. Физика.— 2010.— [С. 80-85] |
|---|---|
| Κύριος συγγραφέας: | |
| Άλλοι συγγραφείς: | , |
| Περίληψη: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Методом штарковского уширения определены средние за время импульса значения концентрации электронов в плазме диффузного разряда в гелии при давлениях от 1 до 6 атм. Представлена временная динамика электронной плотности в разрядной плазме гелия при атмосферном давлении. Для плазмы разряда в гелии при давлении 1 атм максимальное значение концентрации электронов составило ~5,4.1015 см-3. В разрядной плазме азота посредством методики, основанной на столкновительно-радиационной модели плазмы, оценено среднее за время импульса значение температуры электронов, которое составляет ~2,3 эВ, а также ее временная динамика. |
| Γλώσσα: | Ρωσικά |
| Έκδοση: |
2010
|
| Σειρά: | Математика и механика. Физика |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2010/v316/i2/17.pdf |
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=182756 |
MARC
| LEADER | 00000nla2a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 182756 | ||
| 005 | 20231031171407.0 | ||
| 035 | |a (RuTPU)RU\TPU\book\198106 | ||
| 035 | |a RU\TPU\book\198105 | ||
| 090 | |a 182756 | ||
| 100 | |a 20100624d2010 k y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 135 | |a drnn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | |a i | |
| 182 | 0 | |a b | |
| 200 | 1 | |a Концентрация и температура электронов в плазме диффузного разряда, формируемого при высоких перенапряжениях в плотных газах |b Электронный ресурс |f Д. А. Сорокин, М. И. Ломаев, К. Ю. Кривоногова | |
| 203 | |a Текст |c электронный | ||
| 215 | |a 1 файл (547 Кб) | ||
| 225 | 1 | |a Математика и механика. Физика | |
| 230 | |a Электронные текстовые данные (1 файл : 547 Кб) | ||
| 300 | |a Заглавие с титульного листа | ||
| 300 | |a Электронная версия печатной публикации | ||
| 320 | |a [Библиогр.: с. 84-85 (14 назв.)] | ||
| 330 | |a Методом штарковского уширения определены средние за время импульса значения концентрации электронов в плазме диффузного разряда в гелии при давлениях от 1 до 6 атм. Представлена временная динамика электронной плотности в разрядной плазме гелия при атмосферном давлении. Для плазмы разряда в гелии при давлении 1 атм максимальное значение концентрации электронов составило ~5,4.1015 см-3. В разрядной плазме азота посредством методики, основанной на столкновительно-радиационной модели плазмы, оценено среднее за время импульса значение температуры электронов, которое составляет ~2,3 эВ, а также ее временная динамика. | ||
| 337 | |a Adobe Reader | ||
| 461 | 1 | |0 (RuTPU)RU\TPU\book\176237 |t Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ] |f Томский политехнический университет (ТПУ) |d 2000- | |
| 463 | 1 | |0 (RuTPU)RU\TPU\book\196538 |x 1684-8519 |t Т. 316, № 2: Математика и механика. Физика |v [С. 80-85] |d 2010 |p 154 с. | |
| 610 | 1 | |a диффузный разряд | |
| 610 | 1 | |a электроны | |
| 610 | 1 | |a концентрация | |
| 610 | 1 | |a температура | |
| 610 | 1 | |a метод штарковского уширения | |
| 610 | 1 | |a аппаратные функции | |
| 610 | 1 | |a электронный ресурс | |
| 610 | 1 | |a плазма гелия | |
| 610 | 1 | |a плазма азота | |
| 610 | 1 | |a плотные газы | |
| 610 | 1 | |a электронная плотность | |
| 700 | 1 | |a Сорокин |b Д. А. | |
| 701 | 1 | |a Ломаев |b М. И. | |
| 701 | 1 | |a Кривоногова |b К. Ю. | |
| 801 | 1 | |a RU |b 63413507 |c 20090623 |g PSBO | |
| 801 | 2 | |a RU |b 63413507 |c 20211222 |g PSBO | |
| 856 | 4 | |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2010/v316/i2/17.pdf | |
| 942 | |c CF | ||