Томский политехнический институт (ТПИ), Аникеенко В. М. Владимир Михайлович, Похолков Ю. П. Юрий Петрович, & Липин Ю. И. (1967). Разработка методики определения дефективности эмалированных проводов: Отчет о НИР. Томск, 1967.
Chicago Style (17th ed.) CitationТомский политехнический институт (ТПИ), Аникеенко В. М. Владимир Михайлович, Похолков Ю. П. Юрий Петрович, and Липин Ю. И. Разработка методики определения дефективности эмалированных проводов: Отчет о НИР. Томск, 1967, 1967.
ציטוט MLAТомский политехнический институт (ТПИ), et al. Разработка методики определения дефективности эмалированных проводов: Отчет о НИР. Томск, 1967, 1967.
אזהרה: ציטוטים אלה לעיתים לא מדויקים ב 100%.