Теоретический расчет чувствительности фотографического метода бетатронной дефектоскопии; Тезисы докладов на IV межвузовской научной конференции по электронным ускорителям 13-17 февраля 1962 г.

Detalhes bibliográficos
Parent link:Тезисы докладов на IV межвузовской научной конференции по электронным ускорителям 13-17 февраля 1962 г..— 1962.— С. 48
Autor principal: Горбунов В. И.
Outros Autores: Янисов В. В.
Idioma:russo
Publicado em: 1962
Assuntos:
Formato: Capítulo de Livro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=179230

Registos relacionados