Теоретический расчет чувствительности фотографического метода бетатронной дефектоскопии; Тезисы докладов на IV межвузовской научной конференции по электронным ускорителям 13-17 февраля 1962 г.

Bibliographic Details
Parent link:	Тезисы докладов на IV межвузовской научной конференции по электронным ускорителям 13-17 февраля 1962 г..— 1962.— С. 48
Main Author:	Горбунов В. И.
Other Authors:	Янисов В. В.
Language:	Russian
Published:	1962
Subjects:	электронные ускорители труды учёных ТПУ
Format:	Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=179230

MARC


LEADER	00000naa2a2200000 4500
001	179230
005	20231031170245.0
035			\|a (RuTPU)RU\TPU\book\194294
035			\|a RU\TPU\tpu\5441
090			\|a 179230
100			\|a 20100416d1962 k y0rusy50 ca
101	0		\|a rus
102			\|a RU
200	1		\|a Теоретический расчет чувствительности фотографического метода бетатронной дефектоскопии \|f В. И. Горбунов, В. В. Янисов
463		0	\|0 (RuTPU)RU\TPU\book\171972 \|t Тезисы докладов на IV межвузовской научной конференции по электронным ускорителям 13-17 февраля 1962 г. \|f Томский политехнический институт (ТПИ), Научно-исследовательский институт ядерной физики, электроники и автоматики (НИИ ЯФЭА) \|v С. 48 \|d 1962 \|p 64 с.
610	1		\|a электронные ускорители
610	1		\|a труды учёных ТПУ
700		1	\|a Горбунов \|b В. И.
701		1	\|a Янисов \|b В. В.
801		0	\|a RU \|b 63413507 \|c 20011210 \|g PSBO
801		2	\|a RU \|b 63413507 \|c 20100416 \|g PSBO
942			\|c BK