Горбунов В. И. & Янисов В. В. (1962). Теоретический расчет чувствительности фотографического метода бетатронной дефектоскопии; Тезисы докладов на IV межвузовской научной конференции по электронным ускорителям 13-17 февраля 1962 г. 1962.
Chicago Style (17th ed.) CitationГорбунов В. И. and Янисов В. В. Теоретический расчет чувствительности фотографического метода бетатронной дефектоскопии; Тезисы докладов на IV межвузовской научной конференции по электронным ускорителям 13-17 февраля 1962 г. 1962, 1962.
MLA (9th ed.) CitationГорбунов В. И. and Янисов В. В. Теоретический расчет чувствительности фотографического метода бетатронной дефектоскопии; Тезисы докладов на IV межвузовской научной конференции по электронным ускорителям 13-17 февраля 1962 г. 1962, 1962.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.