Методы ядерного анализа конденсированных сред: учебное пособие
| Հիմնական հեղինակ: | |
|---|---|
| Համատեղ հեղինակ: | |
| Այլ հեղինակներ: | , |
| Ամփոփում: | Заглавие с титульного экрана Электронная версия печатной публикации Учебное пособие подготовлено на кафедре общей физики. В работе изложены физические основы методов ядерного анализа на пучках заряженных частиц: резерфордовского и резонансного обратного рассеяния ионов гелия, ядер отдачи с использованием ионов гелия, углерода и азота, ядерных реакций, ренгено-флуоресцентный анализ, обсуждаются их возможности и ограничения. Рассмотрено сочетание этих методов с эффектом каналирования для исследования структуры твердого тела и местоположения примесных атомов. Проанализированы методические вопросы подготовки и проведения экспериментов с применением ядерно-физических методов исследования твердого тела. Для студентов, магистров и аспирантов, занимающихся радиационной физикой твердого тела, ионной имплантацией, материаловедением и модификацией свойств полупроводников и материалов опто- и микроэлектроники, прикладной ядерной физикой. Полезно научным и инженерно-техническим работникам соответствующих специальностей Режим доступа: из корпоративной сети ТПУ |
| Լեզու: | ռուսերեն |
| Հրապարակվել է: |
Томск, Изд-во ТПУ, 2008
|
| Խորագրեր: | |
| Առցանց հասանելիություն: | http://www.lib.tpu.ru/fulltext2/m/2010/m35.pdf |
| Ձևաչափ: | Էլեկտրոնային Գիրք |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=177407 |
| Ամփոփում: | Заглавие с титульного экрана Электронная версия печатной публикации Учебное пособие подготовлено на кафедре общей физики. В работе изложены физические основы методов ядерного анализа на пучках заряженных частиц: резерфордовского и резонансного обратного рассеяния ионов гелия, ядер отдачи с использованием ионов гелия, углерода и азота, ядерных реакций, ренгено-флуоресцентный анализ, обсуждаются их возможности и ограничения. Рассмотрено сочетание этих методов с эффектом каналирования для исследования структуры твердого тела и местоположения примесных атомов. Проанализированы методические вопросы подготовки и проведения экспериментов с применением ядерно-физических методов исследования твердого тела. Для студентов, магистров и аспирантов, занимающихся радиационной физикой твердого тела, ионной имплантацией, материаловедением и модификацией свойств полупроводников и материалов опто- и микроэлектроники, прикладной ядерной физикой. Полезно научным и инженерно-техническим работникам соответствующих специальностей Режим доступа: из корпоративной сети ТПУ |
|---|