Моделирование поведения наноструктур на основе бислойных пленок. Влияние размерного фактора; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 314, № 2: Математика и механика. Физика

Մատենագիտական մանրամասներ
Parent link:Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000-
Т. 314, № 2: Математика и механика. Физика.— 2009.— [С. 82-87]
Այլ հեղինակներ: Псахье С. Г. Сергей Григорьевич, Зольников К. П., Руденский Г. Е., Дмитриев А. И. Андрей Иванович, Коноваленко И. С. Иван Сергеевич, Железняков А. В., Меньщикова Т. В., Коростелев С. Ю.
Ամփոփում:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
В рамках метода молекулярной динамики исследовано поведение незамкнутых наноструктур, сформированных на основе двухслойных кристаллических пленок Ni и Cu. Межатомное взаимодействие описывалось в рамках метода погруженного атома. Исследована зависимость амплитуды колебаний от размеров исходной пленки и определены геометрические параметры, при которых наноструктура совершает колебания с максимально возможной амплитудой. Полученные результаты представляют интерес для разработки компонентов наноустройств различного функционального назначения.
Լեզու:ռուսերեն
Հրապարակվել է: 2009
Շարք:Математика и механика. Физика
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2009/v314/i2/18.pdf
Ձևաչափ: MixedMaterials Էլեկտրոնային Գրքի գլուխ
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=174355