Моделирование поведения наноструктур на основе бислойных пленок. Влияние размерного фактора; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 314, № 2: Математика и механика. Физика

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Parent link:	Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000- Т. 314, № 2: Математика и механика. Физика.— 2009.— [С. 82-87]
Άλλοι συγγραφείς:	Псахье С. Г. Сергей Григорьевич, Зольников К. П., Руденский Г. Е., Дмитриев А. И. Андрей Иванович, Коноваленко И. С. Иван Сергеевич, Железняков А. В., Меньщикова Т. В., Коростелев С. Ю.
Περίληψη:	Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации В рамках метода молекулярной динамики исследовано поведение незамкнутых наноструктур, сформированных на основе двухслойных кристаллических пленок Ni и Cu. Межатомное взаимодействие описывалось в рамках метода погруженного атома. Исследована зависимость амплитуды колебаний от размеров исходной пленки и определены геометрические параметры, при которых наноструктура совершает колебания с максимально возможной амплитудой. Полученные результаты представляют интерес для разработки компонентов наноустройств различного функционального назначения.
Γλώσσα:	Ρωσικά
Έκδοση:	2009
Σειρά:	Математика и механика. Физика
Θέματα:	молекулярная динамика незамкнутые наноструктуры бислойные пленки метод погруженного атома амплитуда колебания геометрические параметры электронный ресурс
Διαθέσιμο Online:	http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2009/v314/i2/18.pdf
Μορφή:	Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=174355

Περιγραφή
Φυσική περιγραφή:	1 файл (424 Кб)
Περίληψη:	Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации В рамках метода молекулярной динамики исследовано поведение незамкнутых наноструктур, сформированных на основе двухслойных кристаллических пленок Ni и Cu. Межатомное взаимодействие описывалось в рамках метода погруженного атома. Исследована зависимость амплитуды колебаний от размеров исходной пленки и определены геометрические параметры, при которых наноструктура совершает колебания с максимально возможной амплитудой. Полученные результаты представляют интерес для разработки компонентов наноустройств различного функционального назначения.

Παρόμοια τεκμήρια