Аппроксимация профиля асферической поверхности

Manylion Llyfryddiaeth
Parent link:Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000-
Т. 312, № 5 : Управление, вычислительная техника и информатика.— 2008.— [С. 10-12]
Prif Awdur: Рейзлин В. И. Валерий Израилевич
Awduron Eraill: Марчук С. М. Сергей Михайлович, Дёмин А. Ю. Антон Юрьевич
Crynodeb:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
Предложена методика аппроксимации профиля асферической оптической поверхности, содержащей ошибки изготовления. Для аппроксимации используются измеренные отклонения реального профиля поверхности от расчетных значений. Результатами аппроксимации являются новые значения коэффициентов в уравнении профиля асферической поверхности. Аппроксимация выполняется с целью анализа влияния ошибок изготовления на качество изображения оптической системы, элементом которой является контролируемая асферическая поверхность. Предложенная методика реализована в автоматизированном приложении PROFILE.
Cyhoeddwyd: 2008
Cyfres:Управление, вычислительная техника и информатика
Pynciau:
Mynediad Ar-lein:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2008/v312/i5/02.pdf
Fformat: Electronig Pennod Llyfr
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=173256
Disgrifiad
Disgrifiad Corfforoll:1 файл (514 Кб)
Crynodeb:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
Предложена методика аппроксимации профиля асферической оптической поверхности, содержащей ошибки изготовления. Для аппроксимации используются измеренные отклонения реального профиля поверхности от расчетных значений. Результатами аппроксимации являются новые значения коэффициентов в уравнении профиля асферической поверхности. Аппроксимация выполняется с целью анализа влияния ошибок изготовления на качество изображения оптической системы, элементом которой является контролируемая асферическая поверхность. Предложенная методика реализована в автоматизированном приложении PROFILE.