Дашиева О. Ц. & Капранов Б. И. Борис Иванович. (2008). Разработка алгоритма реконструкции распределения плотности по глубине изделия для сканирующей системы томографа "Comscan"; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика. 2008.
Cita Chicago (17th ed.)Дашиева О. Ц. i Капранов Б. И. Борис Иванович. Разработка алгоритма реконструкции распределения плотности по глубине изделия для сканирующей системы томографа "Comscan"; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика. 2008, 2008.
Cita MLA (9th ed.)Дашиева О. Ц. i Капранов Б. И. Борис Иванович. Разработка алгоритма реконструкции распределения плотности по глубине изделия для сканирующей системы томографа "Comscan"; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика. 2008, 2008.