Дашиева О. Ц. & Капранов Б. И. Борис Иванович. (2008). Разработка алгоритма реконструкции распределения плотности по глубине изделия для сканирующей системы томографа "Comscan"; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика. 2008.
Chicago Style aipamenaДашиева О. Ц. and Капранов Б. И. Борис Иванович. Разработка алгоритма реконструкции распределения плотности по глубине изделия для сканирующей системы томографа "Comscan"; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика. 2008, 2008.
MLA aipamenaДашиева О. Ц. and Капранов Б. И. Борис Иванович. Разработка алгоритма реконструкции распределения плотности по глубине изделия для сканирующей системы томографа "Comscan"; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика. 2008, 2008.