Зыков В. М. Владимир Михайлович & Киселёв А. Н. (2008). Аппаратура для радиационных исследований индуцированной примесной фотопроводимости в монокристаллическом SI<B>; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика. 2008.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Зыков В. М. Владимир Михайлович и Киселёв А. Н. Аппаратура для радиационных исследований индуцированной примесной фотопроводимости в монокристаллическом SI<B>; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика. 2008, 2008.
Цитирование MLA (9-е изд.)Зыков В. М. Владимир Михайлович и Киселёв А. Н. Аппаратура для радиационных исследований индуцированной примесной фотопроводимости в монокристаллическом SI<B>; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика. 2008, 2008.