Зыков В. М. Владимир Михайлович & Киселёв А. Н. (2008). Аппаратура для радиационных исследований индуцированной примесной фотопроводимости в монокристаллическом SI<B>; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика. 2008.
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)Зыков В. М. Владимир Михайлович e Киселёв А. Н. Аппаратура для радиационных исследований индуцированной примесной фотопроводимости в монокристаллическом SI<B>; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика. 2008, 2008.
Citatione MLA (9a ed.)Зыков В. М. Владимир Михайлович e Киселёв А. Н. Аппаратура для радиационных исследований индуцированной примесной фотопроводимости в монокристаллическом SI<B>; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика. 2008, 2008.