Статистически обусловленная пороговая чувствительность сканирующих средств оптического контроля
| Parent link: | Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000- Т. 307, № 2.— 2004.— [С. 41-44] |
|---|---|
| Main Author: | |
| Summary: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации На основе статистической теории дано определение пороговых значений предельной и контрастной чувствительности оптических сканирующих измерительных средств. Показано, что их предельная чувствительность в режиме обнаружения определяет пороговый уровень светового потока от объектов, контроль параметров которых может быть осуществлен в режиме слежения. Учтено влияние интенсивности светового потока на оценку оптимального размера покрытия пространства и фрактальную размерность изображения. Исследовано влияние на вейвлет-характеристику изображения фона изменения размеров фрактального изображения объекта для ортогонального разложения сигнала изображения по базисам вейвлета. |
| Published: |
2004
|
| Series: | Естественные науки |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2004/v307/i2/08.pdf |
| Format: | Electronic Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=168935 |
| Physical Description: | 1 файл (6.1 Мб) |
|---|---|
| Summary: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации На основе статистической теории дано определение пороговых значений предельной и контрастной чувствительности оптических сканирующих измерительных средств. Показано, что их предельная чувствительность в режиме обнаружения определяет пороговый уровень светового потока от объектов, контроль параметров которых может быть осуществлен в режиме слежения. Учтено влияние интенсивности светового потока на оценку оптимального размера покрытия пространства и фрактальную размерность изображения. Исследовано влияние на вейвлет-характеристику изображения фона изменения размеров фрактального изображения объекта для ортогонального разложения сигнала изображения по базисам вейвлета. |