Капранов Б. И. Борис Иванович & Коротков М. М. Михаил Михайлович. (2002). Контрольный образец с клиновидной зарубкой для настройки чувствительности ультразвуковых дефектоскопов. 2002.
Cita Chicago (17th ed.)Капранов Б. И. Борис Иванович i Коротков М. М. Михаил Михайлович. Контрольный образец с клиновидной зарубкой для настройки чувствительности ультразвуковых дефектоскопов. 2002, 2002.
Cita MLA (9th ed.)Капранов Б. И. Борис Иванович i Коротков М. М. Михаил Михайлович. Контрольный образец с клиновидной зарубкой для настройки чувствительности ультразвуковых дефектоскопов. 2002, 2002.
Atenció: Aquestes cites poden no estar 100% correctes.