Капранов Б. И. Борис Иванович & Коротков М. М. Михаил Михайлович. (2002). Контрольный образец с клиновидной зарубкой для настройки чувствительности ультразвуковых дефектоскопов; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 305, вып. 5. 2002.
Chicago-viite (17. p.)Капранов Б. И. Борис Иванович ja Коротков М. М. Михаил Михайлович. Контрольный образец с клиновидной зарубкой для настройки чувствительности ультразвуковых дефектоскопов; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 305, вып. 5. 2002, 2002.
MLA-viite (9. p.)Капранов Б. И. Борис Иванович ja Коротков М. М. Михаил Михайлович. Контрольный образец с клиновидной зарубкой для настройки чувствительности ультразвуковых дефектоскопов; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 305, вып. 5. 2002, 2002.