Измерение толщины легких металлов по обратному рассеянию; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика

Измерение толщины легких металлов по обратному рассеянию; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика

Bibliographic Details
Parent link:	Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000- Неразрушающий контроль и диагностика.— 1998.— [С. 69-80]
Other Authors:	Забродский В. А., Грошев В. Я., Сидуленко О. А. Олег Анатольевич, Варага В. В.
Summary:	Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Проведен анализ погрешностей измерения толщины покрытий из легких материалов при измерениях с помощью обратнорассеянного низкоэнергетического рентгеновского излучения. Изучен вклад мешающих факторов, рассмотрены основные схемы измерения для различных комбинаций элементов в системе покрытие - основа.
Language:	Russian
Published:	1998
Subjects:	обратное рассеяние легкие металлы толщина погрешности измерения рентгеновское излучение труды учёных ТПУ электронный ресурс
Online Access:	http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/1998/17.pdf
Format:	Electronic Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=161670

Similar Items

Исследование методов неразрушающего контроля по обратному рассеянию моноэнергетических электронов с энергиями 2+6 мегаэлектронвольт: Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук
by: Каратаев В. Д.
Published: (Томск, 1973)

Анализ полимерных композиционных материалов на тканевой основе по обратному рассеянию фотонного излучения; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 305, вып. 5
by: Забродский В. А.
Published: (2002)

Обратное рассеяние α-частиц на легких ядрах: диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук
by: Кузнецов Б. И.
Published: (Томск, 1972)

Обратное рассеяние электронов и его использование для измерения толщины покрытий: Отчет о НИР; Тема: х/д № 56/68
Published: (Томск, 1968)

Исследование поверхности по обратному рассеянию частиц
by: Рязанов М. И. Михаил Иванович
Published: (Москва, Энергоатомиздат, 1985)

Применение обратнорассеянного рентгеновского излучения в промышленности
by: Забродский В. А. Виталий Антонович
Published: (Москва, Энергоатомиздат, 1989)

Features of X-ray Absorption Densitometry of Large-size Objects with Variable Thickness; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015)
Published: (2016)

Методы анализа на пучках заряженных частиц
Published: (Киев, Наукова думка, 1987)

Неразрушающий анализ поверхностей твердых тел ионными пучками
by: Комаров Ф. Ф. Фадей Фадеевич
Published: (Минск, Университетское, 1987)

Измерение толщины ультразвуковыми толщинометрами с а-развёрткой; Техническая диагностика и неразрушающий контроль; № 2
by: Козин А. Н.
Published: (2003)

Радиоизотопное измерение плотности легких сред
by: Чудаков В. А. Владимир Андреанович
Published: (Минск, Изд-во Белорусского ГУ, 1982)

Ультразвуковой контроль толщины стенок труб в потоке производства; Техническая диагностика и неразрушающий контроль; № 3
by: Гарькавый В. В.
Published: (2004)

Томографическая визуализация и контроль толщины стенок труб по ограниченным рентгеновским данным; Техническая диагностика и неразрушающий контроль; № 3
Published: (2004)

Измерение толщины изоляционной оболочки секторной жилы накладным ВТП; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1
by: Ван Юй
Published: (2015)

Контроль плотности твердых тел по обратному рассеянию моноэнергетических электронов; Дефектоскопия; № 12
by: Сорокин В. Б. Владимир Борисович
Published: (1978)

Ионный синтез пленок твердого раствора [Ga1-xInxAs]; Известия вузов. Физика; Т. 47, № 2
by: Ардышев М. В.
Published: (2004)

Радиационный контроль и измерение изделий
by: Милевский Э. Б. Эдуард Борисович
Published: (Москва, Машгиз, 1963)

Исследование влияния толщины полимерного коллиматора, изготовленного посредством аддитивных технологий, на рассеяние высокоэнергетичных электронов; Физико-технические проблемы в науке, промышленности и медицине (ФТПНПМ-2019)
by: Бушмина Е. А. Елизавета Алексеевна
Published: (2019)

Оптимизация параметров гамма-абсорбционного метода измерения толщины слоев двухслойной композиции; Дефектоскопия; № 11
by: Безуглов А. И.
Published: (2003)

Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов для анализа состава и структуры ионно-облученных слоев диэлектриков; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 303, вып. 3
Published: (2000)

Альбедный динамический контроль толщины покрытий электронами высокой энергии; Контроль толщины покрытий и его метрологическое обеспечение
by: Кононов Б. А. Борис Александрович
Published: (1979)

Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов 4He для анализа состава и структуры ионно-облучённых слоёв диэлектриков; Физика твердого тела
by: Крючков Ю. Ю.
Published: (2002)

Радиоизотопный измеритель толщины карбидокремниевых покрытий; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1
by: Горохов Р. Е.
Published: (2014)

Меры толщины покрытий и их измерение способом совмещения профилограм; Измерительная техника; № 4
by: Бабаджанов Л. С.
Published: (2003)

Применение алгоритма обратного проецирования для комптоновской томографии; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика
by: Кривовяз С. В.
Published: (2008)

Optical Model of Medium for the Numerical Imitation of Wave Surface Forming High-Intensity Reflected Radiant Energy; Key Engineering Materials; Vol. 685 : High Technology: Research and Applications 2015 (HTRA 2015)
by: Shefer O. V. Olga Vladimirovna
Published: (2016)

Измерение толщины плёнки жидкости волоконно-оптическим датчиков; Приборы и техника эксперимента; № 2
Published: (2003)

Development of the portable reflectance pulse oximeter; Перспективы развития фундаментальных наук; Т. 4 : Биомедицина
by: Kupin A. A.
Published: (2016)

Разработка и изготовление устройства для сварки легких сплавов малых толщин: Заключительный отчет о НИР; Тема 4-51/76
Published: (Томск, ТПИ, 1977)

Численная модель для оценки аномального обратного рассеяния; Молодежь и современные информационные технологии; Т. 1
by: Лоскутов В. В. Виталий Валерьевич
Published: (2014)

Электронный плотномер
by: Сорокин В. Б. Владимир Борисович
Published: ()

Анализ компенсации искажений по сигналу обратного рассеяния, проводимый с учетом ограничений, вносимых адаптивным зеркалом; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 315. № 4: Энергетика
by: Канев Ф. Ю. Федор Юрьевич
Published: (2009)

Оценка толщины лакокрасочного покрытия; Радио; № 2
by: Бельский А.
Published: (2002)

Измерение толщины изоляционной оболочки кабеля накладным ВТП; Информационно-измерительная техника и технологии
by: Ван Юй
Published: (2015)

Crystallographic analysis of rock grain orientation at meso- and microscale levels; AIP Conference Proceedings; Vol. 1623 : International Conference on Physical Mesomechanics of Multilevel Systems 2014, Tomsk, Russia, 3–5 September 2014
Published: (2014)

Рентгеновский анализ текстуры в объектах разной толщины; Измерительная техника; № 2
by: Колеров О. К.
Published: (2003)

Технология легких сплавов: научно-технический бюллетень
Published: (1979-1981)

Способ контроля толщины покрытий
Published: ()

Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов 4Не для анализа состава и структуры ионно-облученных слоёв диэлектриков; Проблемы физико-технического образования и атомной промышленности
by: Крючков Ю. Ю. Юрий Юрьевич
Published: (2000)

Металлургия легких металлов: учебник
by: Николаев И. В. Иван Васильевич
Published: (Москва, Металлургия, 1997)