Развитие теории и физико-химических основ инверсионной вольтамперометрии (ИВ). Разработка и внедрение аппаратуры и методик определения 10[-9]-10[-11] г примесей в различных материалах, промежуточный отчет о НИР тема : г/б
| Corporate Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Summary: | Целью исследований, представленных в данном отчете, является дальнейшее всестороннее развитие метода инверсионной вольтамперометрии. В области теории предложена методика расчета теоретического предела обнаружения элементов в постоянно токовой инверсионной вольтамперометрии по случайной составляющей остаточного тока.Показано, что одним из путей дальнейшего снижения предела обнаружения является усовершенствование компенсаторов остаточного тока. Экспериментально исследованы остаточные токи на графитовых и ртутно-графитовых электродах.Разработана приставка к серийному полярографу ПУ-I, обеспечивающая дополнительную компенсацию остаточного тока в 10÷100 раз, получен акт об ее испытании на заводе ЗИП (г. Гомель). Разработаны ИВ методики анализа полупроводниковых материалов, пленок.Результаты представленных работ могут быть использованы при разработке конструкций полярографов и в практике аналитических лабораторий промышленных предприятий. |
| Published: |
Томск, 1983
|
| Subjects: | |
| Format: | Book |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=157186 |
| Physical Description: | 35 л. |
|---|---|
| Summary: | Целью исследований, представленных в данном отчете, является дальнейшее всестороннее развитие метода инверсионной вольтамперометрии. В области теории предложена методика расчета теоретического предела обнаружения элементов в постоянно токовой инверсионной вольтамперометрии по случайной составляющей остаточного тока.Показано, что одним из путей дальнейшего снижения предела обнаружения является усовершенствование компенсаторов остаточного тока. Экспериментально исследованы остаточные токи на графитовых и ртутно-графитовых электродах.Разработана приставка к серийному полярографу ПУ-I, обеспечивающая дополнительную компенсацию остаточного тока в 10÷100 раз, получен акт об ее испытании на заводе ЗИП (г. Гомель). Разработаны ИВ методики анализа полупроводниковых материалов, пленок.Результаты представленных работ могут быть использованы при разработке конструкций полярографов и в практике аналитических лабораторий промышленных предприятий. |