Trace Analysis: Papers Presented at a Symposium on Trace Analysis held at the New York Academy of Medicine, New York, N. Y., November2, 3,4,1955

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: John H. Yoe
מחברים אחרים: Koch Henry J.
שפה:אנגלית
יצא לאור: New York, John Wiley & Sons, Inc., 1955
נושאים:
פורמט: ספר
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=152381