|
|
|
|
| LEADER |
00000nam0a2200000 4500 |
| 001 |
150989 |
| 005 |
20231101221529.0 |
| 010 |
|
|
|a 9785948362007
|
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\book\163718
|
| 090 |
|
|
|a 150989
|
| 100 |
|
|
|a 20090116d2009 m y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a a j 001zy
|
| 200 |
1 |
|
|a Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения
|e учебное пособие
|f М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.]
|
| 210 |
|
|
|a Москва
|c Техносфера
|d 2009
|
| 215 |
|
|
|a 208 с.
|c ил.
|
| 225 |
1 |
|
|a Мир физики и техники
|
| 300 |
|
|
|a Авт. указаны на тит. л.
|
| 320 |
|
|
|a Библиогр. в конце гл.
|
| 330 |
|
|
|a Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории и иллюстрирует решения практических задач. Также приведены примеры решения исследовательских задач. Все примеры подобраны таким образом, чтобы дать наиболее полное представление о типах задач, решаемых с помощью сканирующей электронной микроскопии, о подходах к их решению и общей методологии.В качестве учебного пособия книга предназначена для инженеров, аспирантов и студентов, повышающих свою квалификацию или обучающихся по специальностям, связанным с машиностроением и материаловедением. Ее можно использовать как вводный курс для операторов или непосредственных пользователей сканирующих электронных микроскопов. Книга также будет полезна специалистам, которым приходится ставить задачи, требующие применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.
|
| 606 |
1 |
|
|a Электронная микроскопия
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\20357
|9 45466
|
| 606 |
1 |
|
|a Рентгеноспектральный анализ
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\53507
|9 71713
|
| 610 |
1 |
|
|a учебные пособия
|
| 610 |
1 |
|
|a сканирующая электронная микроскопия
|
| 610 |
1 |
|
|a рентгеноспектральный микроанализ
|
| 610 |
1 |
|
|a практическое применение
|
| 610 |
1 |
|
|a электронные микроскопы
|
| 610 |
1 |
|
|a поверхности разрушения
|
| 610 |
1 |
|
|a фрактография
|
| 610 |
1 |
|
|a внутренние дефекты
|
| 610 |
1 |
|
|a конструкционные материалы
|
| 610 |
1 |
|
|a конструкционные покрытия
|
| 675 |
|
|
|a 537.533.3(075.8)
|v 3
|
| 675 |
|
|
|a 539.26(075.8)
|v 3
|
| 701 |
|
1 |
|a Криштал
|b М. М.
|g Михаил Михайлович
|
| 701 |
|
1 |
|a Ясников
|b И. С.
|g Игорь Станиславович
|
| 701 |
|
1 |
|a Полунин
|b В. И.
|g Виктор Иванович
|
| 701 |
|
1 |
|a Филатов
|b А. М.
|g Анатолий Михайлович
|
| 701 |
|
1 |
|a Ульяненко
|b А. Г.
|g Александр Георгивич
|
| 801 |
|
1 |
|a RU
|b 63413507
|c 20090116
|g PSBO
|
| 801 |
|
2 |
|a RU
|b 63413507
|c 20201102
|g RCR
|
| 942 |
|
|
|c BK
|
| 959 |
|
|
|a 8/20090116
|d 1
|e 0
|f ЧЗТЛ:1
|
| 959 |
|
|
|a 110/20091026
|d 1
|e 0
|f ЧЗТЛ:1
|
