Криштал М. М. Михаил Михайлович, Ясников И. С. Игорь Станиславович, Полунин В. И. Виктор Иванович, Филатов А. М. Анатолий Михайлович, & Ульяненко А. Г. Александр Георгивич. (2009). Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие. Москва, Техносфера, 2009.
Chicago Style (17th ed.) CitationКриштал М. М. Михаил Михайлович, Ясников И. С. Игорь Станиславович, Полунин В. И. Виктор Иванович, Филатов А. М. Анатолий Михайлович, and Ульяненко А. Г. Александр Георгивич. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие. Москва, Техносфера, 2009, 2009.
MLA (9th ed.) CitationКриштал М. М. Михаил Михайлович, et al. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие. Москва, Техносфера, 2009, 2009.