Криштал М. М. Михаил Михайлович, Ясников И. С. Игорь Станиславович, Полунин В. И. Виктор Иванович, Филатов А. М. Анатолий Михайлович, & Ульяненко А. Г. Александр Георгивич. (2009). Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие. Москва, Техносфера, 2009.
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)Криштал М. М. Михаил Михайлович, Ясников И. С. Игорь Станиславович, Полунин В. И. Виктор Иванович, Филатов А. М. Анатолий Михайлович, e Ульяненко А. Г. Александр Георгивич. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие. Москва, Техносфера, 2009, 2009.
Citatione MLA (9a ed.)Криштал М. М. Михаил Михайлович, et al. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие. Москва, Техносфера, 2009, 2009.