Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы: пер. с англ. - Уайтхауз Д. Дэвид (Долгопрудный, Интеллект, 2009)
Учебно-справочное руководство известного специалиста отражает как совершенствовавшиеся много десятилетий методы обработки и контроля качества поверхностей в машиностроении и оптическом приборостроении, так и достижения последних лет (включая новые способы описания характеристик и использование сканирующих микроскопов). Для технических университетов и специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков.