| Samenvatting: | В предлагаемой вниманию читателей монографии рассмотрены параметры полупроводниковых приборов, методы и устройства для их измерения, вопросы испытаний полупроводниковых приборов и устройств. Особое внимание уделено измерению параметров эквивалентной схемы полупроводникового диода и времени жизни носителей заряда в р-n переходах, а также испытанию устройств числового программного управления. Дана оценка погрешностей измерения ряда параметров диодов, показана возможность разбраковки микросхем по таблицам истинности. |
|---|
