Полупроводниковые приборы, измерения параметров, испытания: [монография]
| Huvudupphovsman: | |
|---|---|
| Institutionell upphovsman: | |
| Sammanfattning: | В предлагаемой вниманию читателей монографии рассмотрены параметры полупроводниковых приборов, методы и устройства для их измерения, вопросы испытаний полупроводниковых приборов и устройств. Особое внимание уделено измерению параметров эквивалентной схемы полупроводникового диода и времени жизни носителей заряда в р-n переходах, а также испытанию устройств числового программного управления. Дана оценка погрешностей измерения ряда параметров диодов, показана возможность разбраковки микросхем по таблицам истинности. |
| Språk: | ryska |
| Publicerad: |
Чита, Изд-во ЧитГУ, 2008
|
| Ämnen: | |
| Materialtyp: | Bok |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=141953 |
| Fysisk beskrivning: | 162 с. ил. |
|---|---|
| Sammanfattning: | В предлагаемой вниманию читателей монографии рассмотрены параметры полупроводниковых приборов, методы и устройства для их измерения, вопросы испытаний полупроводниковых приборов и устройств. Особое внимание уделено измерению параметров эквивалентной схемы полупроводникового диода и времени жизни носителей заряда в р-n переходах, а также испытанию устройств числового программного управления. Дана оценка погрешностей измерения ряда параметров диодов, показана возможность разбраковки микросхем по таблицам истинности. |