Полупроводниковые приборы, измерения параметров, испытания, [монография]
| Hovedforfatter: | |
|---|---|
| Institution som forfatter: | |
| Summary: | В предлагаемой вниманию читателей монографии рассмотрены параметры полупроводниковых приборов, методы и устройства для их измерения, вопросы испытаний полупроводниковых приборов и устройств. Особое внимание уделено измерению параметров эквивалентной схемы полупроводникового диода и времени жизни носителей заряда в р-n переходах, а также испытанию устройств числового программного управления. Дана оценка погрешностей измерения ряда параметров диодов, показана возможность разбраковки микросхем по таблицам истинности. |
| Udgivet: |
Чита, Изд-во ЧитГУ, 2008
|
| Fag: | |
| Format: | Bog |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=141953 |
| Fysisk beskrivelse: | 162 с. ил. |
|---|---|
| Summary: | В предлагаемой вниманию читателей монографии рассмотрены параметры полупроводниковых приборов, методы и устройства для их измерения, вопросы испытаний полупроводниковых приборов и устройств. Особое внимание уделено измерению параметров эквивалентной схемы полупроводникового диода и времени жизни носителей заряда в р-n переходах, а также испытанию устройств числового программного управления. Дана оценка погрешностей измерения ряда параметров диодов, показана возможность разбраковки микросхем по таблицам истинности. |