• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Pokročilé
  • Fundamental of Nanoscale Film...
  • Vytvořit citaci
  • Zaslat SMS
  • Poslat e-mailem
  • Vytisknout
  • Exportovat záznam
    • Exportovat do RefWorks
    • Exportovat do EndNoteWeb
    • Exportovat do EndNote
  • Trvalý odkaz
Export byl úspěšný — 
Fundamental of Nanoscale Film Analysis

Fundamental of Nanoscale Film Analysis

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Alford T. L. Terry L.
Další autoři: Feldman L. C. Leonard C., Mayer J. W. James W.
Jazyk:angličtina
Vydáno: New York, Springer, 2007
Témata:
Физика твердого тела
физика
твердые тела
структурный анализ
монокристаллы
нанокристаллы
наноструктуры
измерения
электронная микроскопия
свойства
исследование
оборудование
английский язык
Médium: Kniha
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=140255
  • Jednotky
  • Popis
  • Podobné jednotky
  • UNIMARC/MARC

Podobné jednotky

  • Вып. 11; Физика твердого тела
    Vydáno: (1981)
  • Springer Handbook of Nanotechnology
    Autor: Bhushan B. Bharat
    Vydáno: (New York, Springer, 2007)
  • Solid State Physics
    Autor: Ashcroft N. W.
    Vydáno: (Delhi, Harcourt Asia PTE LTD, 2001)
  • Nanotechnology Basic Science and Emerging Technologies
    Vydáno: (Boca Raton, Chapman & Hall/CRC, 2002)
  • Handbook of Nanoscience, Engineering and Technology
    Vydáno: (New York, CRC Press, 2007)