Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии пер. с англ.

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Рид С. Дж. Б.
Resumo:В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа. Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.
Publicado em: Москва, Техносфера, 2008
coleção:Мир наук о Земле
Assuntos:
Formato: Livro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=139718