Вып. 2
| Parent link: | Причины , механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов: материалы лекций, прочитанных в Политехническом музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества промышленной продукции/ В. В. Ведерников, Н. Н. Горюнов, А. А. Чернышев; Политехнический музей ; под ред. Б. Е. Бердичевского. Вып. 2.— , 1977 |
|---|---|
| Izvleček: | Исключено из фонда НТБ ТПУ |
| Izdano: |
1977
|
| Format: | Knjiga |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=134600 |