Богданов О. В. Олег Викторович, Коротченко К. Б. Константин Борисович, & Пивоваров Ю. Л. Юрий Леонидович. (2007). Сравнительный анализ дифрагированного и параметрического рентгеновских излучений в кристалле Si; Физико-технические проблемы атомной энергетики и промышленности. 2007.
Chicago Style (17th ed.) CitationБогданов О. В. Олег Викторович, Коротченко К. Б. Константин Борисович, and Пивоваров Ю. Л. Юрий Леонидович. Сравнительный анализ дифрагированного и параметрического рентгеновских излучений в кристалле Si; Физико-технические проблемы атомной энергетики и промышленности. 2007, 2007.
MLA (9th ed.) CitationБогданов О. В. Олег Викторович, et al. Сравнительный анализ дифрагированного и параметрического рентгеновских излучений в кристалле Si; Физико-технические проблемы атомной энергетики и промышленности. 2007, 2007.