Богданов О. В. Олег Викторович, Коротченко К. Б. Константин Борисович, & Пивоваров Ю. Л. Юрий Леонидович. (2007). Сравнительный анализ дифрагированного и параметрического рентгеновских излучений в кристалле Si. 2007.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Богданов О. В. Олег Викторович, Коротченко К. Б. Константин Борисович, và Пивоваров Ю. Л. Юрий Леонидович. Сравнительный анализ дифрагированного и параметрического рентгеновских излучений в кристалле Si. 2007, 2007.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Богданов О. В. Олег Викторович, et al. Сравнительный анализ дифрагированного и параметрического рентгеновских излучений в кристалле Si. 2007, 2007.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.