Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учебное пособие

Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Батаев В. А. Владимир Андреевич
Andre forfattere: Батаев А. А. Анатолий Андреевич, Алхимов А. П. Анатолий Павлович
Summary:В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов.
Sprog:russisk
Udgivet: Москва, Флинта, 2008
Udgivelse:2-е изд.
Fag:
Format: Bog
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=129900

Lignende værker