Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учебное пособие

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Батаев В. А. Владимир Андреевич
Muut tekijät: Батаев А. А. Анатолий Андреевич, Алхимов А. П. Анатолий Павлович
Yhteenveto:В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов.
Kieli:venäjä
Julkaistu: Москва, Флинта, 2008
Painos:2-е изд.
Aiheet:
Aineistotyyppi: Kirja
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=129900

Samankaltaisia teoksia