Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учебное пособие
| Huvudupphovsman: | |
|---|---|
| Övriga upphovsmän: | , |
| Sammanfattning: | В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов. |
| Språk: | ryska |
| Publicerad: |
Москва, Флинта, 2008
|
| Upplaga: | 2-е изд. |
| Ämnen: | |
| Materialtyp: | Bok |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=129900 |
| Fysisk beskrivning: | 220 с. ил. |
|---|---|
| Sammanfattning: | В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов. |
| ISBN: | 9785976502079 978-5-02-034811-0 |