MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 119464
005 20231031124616.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\129294 
090 |a 119464 
100 |a 20070705d1979 km y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Основы эллипсометрии  |f Академия наук СССР (АН СССР), Сибирское отделение (СО), Институт физики полупроводников (ИФП) ; под ред. А. В. Ржанова 
210 |a Новосибирск  |c Наука  |d 1979 
215 |a 424 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 377-419. 
320 |a Библиогр.: с. 375-376. 
610 1 |a физика 
610 1 |a оптика 
610 1 |a эллипсометрия 
610 1 |a эллипсы 
610 1 |a теория 
610 1 |a световые пучки 
610 1 |a отражающие системы 
610 1 |a поляризационные углы 
610 1 |a слоистые среды 
610 1 |a сложные отражающие системы 
675 |a 535.8  |v 3 
702 1 |a Ржанов  |b А. В.  |4 340 
712 0 2 |a Академия наук СССР (АН СССР)  |b Сибирское отделение (СО)  |b Институт физики полупроводников (ИФП)  |c (Новосибирск)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\11385 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20070705  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20080918  |g PSBO 
942 |c BK