MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 118425
005 20231101215453.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\128147 
090 |a 118425 
100 |a 20070611d1980 m y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a UA 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Неразрушающие методы обеспечения надежности радиоэлектронной аппаратуры  |f М. М. Некрасов, В. В. Платонов, Л. И. Дадеко 
210 |a Киев  |c Технiка  |d 1980 
215 |a 200 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 195-197 
606 1 |a Радиоэлектронная аппаратура  |x Испытание на надежность  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\23433  |9 48030 
610 1 |a элементы 
610 1 |a контроль 
610 1 |a электронная техника 
610 1 |a диэлектрики 
610 1 |a полупроводники 
610 1 |a электрический пробой 
610 1 |a полупроводниковые материалы 
610 1 |a разрушение 
610 1 |a неразрушающий контроль 
610 1 |a разработка 
610 1 |a применение 
610 1 |a полупроводниковые приборы 
610 1 |a интегральные схемы 
675 |a 621.396.6.019.3  |v 4 
700 1 |a Некрасов  |b М. М.  |g Михаил Макарович 
701 1 |a Платонов  |b В. В.  |g Виталий Васильевич 
701 1 |a Дадеко  |b Л. И.  |g Людмила Ивановна 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20070611  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20210427  |g PSBO 
942 |c BK