Микроскопические методы исследования материалов, пер. с англ.

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Кларк Э. Р. Эшли Р.
Körperschaft: Российская академия наук (РАН) Институт синтетических полимерных материалов (ИСПМ)
Weitere Verfasser: Эберхардт К. Н. Колин Н.
Zusammenfassung:За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические — например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Москва, Техносфера, 2007
Schriftenreihe:Мир материалов и технологий
Schlagworte:
Format: Buch
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=117175

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 117175
005 20231031123556.0
010 |a 9785948361215 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\126822 
090 |a 117175 
100 |a 20070531d2007 km y0rusy50 ca 
101 1 |a rus  |c eng 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Микроскопические методы исследования материалов  |e пер. с англ.  |f Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт 
210 |a Москва  |c Техносфера  |d 2007 
215 |a 371 с.  |c ил. 
225 1 |a Мир материалов и технологий 
320 |a Библиография в конце глав. 
330 |a За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические — например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам. 
610 1 |a материаловедение 
610 1 |a материалы 
610 1 |a электромагнитное излучение 
610 1 |a взаимодействие 
610 1 |a световые волны 
610 1 |a распространение 
610 1 |a микроскопы 
610 1 |a конструкции 
610 1 |a фотоника 
610 1 |a цифровая информация 
610 1 |a цифровые изображения 
610 1 |a хранение 
610 1 |a преобразование 
610 1 |a отраженный свет 
610 1 |a композиты 
610 1 |a волокна 
610 1 |a конфокальная лазерная сканирующая микроскопия 
610 1 |a конфокальные микроскопы 
610 1 |a оптические сечения 
610 1 |a рамановская микроскопия 
610 1 |a волокнистые материалы 
610 1 |a рентгеновская микротомография 
610 1 |a электронная микроскопия 
610 1 |a ядерный магнитный резонанс 
610 1 |a ЯМР 
610 1 |a акустическая микроскопия 
610 1 |a упругость 
610 1 |a ультразвуковая трехмерная картография 
675 |a 620.18  |v 3 
700 1 |a Кларк  |b Э. Р.  |g Эшли Р. 
701 1 |a Эберхардт  |b К. Н.  |g Колин Н. 
712 0 2 |a Российская академия наук (РАН)  |b Институт синтетических полимерных материалов (ИСПМ)  |c (Москва)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\15699 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20070531  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20150529  |g PSBO 
900 |a Методы исследования материалов и процессов 
942 |c BK 
959 |a 46/20070529  |d 1  |e 400,00  |f ЧЗТЛ:1