Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: пер. с англ.

Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsman: Брандон Д.
Övriga upphovsmän: Каплан У.
Sammanfattning:Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Språk:ryska
Publicerad: Москва, Техносфера, 2006
Serie:Мир материалов и технологий
Ämnen:
Materialtyp: Bok
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=117166

Liknande verk