Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля, пер. с англ.

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Брандон Д.
Otros Autores: Каплан У.
Sumario:Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Publicado: Москва, Техносфера, 2006
Colección:Мир материалов и технологий
Materias:
Formato: Libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=117166

Ejemplares similares