Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: пер. с англ.

ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखक: Брандон Д.
अन्य लेखक: Каплан У.
सारांश:Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
भाषा:रूसी
प्रकाशित: Москва, Техносфера, 2006
श्रृंखला:Мир материалов и технологий
विषय:
स्वरूप: पुस्तक
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=117166

समान संसाधन